颗粒物残留量测试

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.表面颗粒物计数与粒径分布：单位面积内大于特定尺寸阈值的颗粒总数统计，以及不同粒径区间颗粒的数量占比分析。

2.非挥发性残留物分析：检测清洗后残留的有机或无机非挥发性物质总量，常以等效单位面积质量表示。

3.纤维状污染物检测：专门识别与统计长度远大于宽度的纤维状颗粒残留。

4.金属颗粒物鉴别：针对可能引起电化学迁移或短路的特定金属元素颗粒进行鉴别与半定量分析。

5.硅基颗粒物分析：对来源于硅材料磨损或环境的硅元素颗粒进行专项检测。

6.隐形封装内部颗粒检测：通过非破坏性方法评估密封元器件封装腔体内的自由可动颗粒。

7.离子色谱法可萃取物测试：分析颗粒物表面或内部可被溶液萃取出的阴阳离子含量。

8.激光诱导击穿光谱元素分析：对单个颗粒或颗粒群进行原位元素成分定性或半定量分析。

9.功能性流体洁净度：检测用于冷却、润滑的油液或氟化液中悬浮颗粒物的浓度与等级。

10.洁净室环境悬浮粒子监测：对生产环境空气中的粒子浓度进行实时或定期监测，评估环境洁净等级。

检测范围

半导体晶圆、集成电路芯片、引线框架、陶瓷封装基板、印刷电路板、柔性电路板、接插件端子、金属散热片、光学镜片、精密轴承、微型马达转子、医用导管内腔、真空腔体内部、高纯气体输送管路、液晶显示面板、太阳能电池片、储能电池电极片、微型传感器件

检测设备

1.光学颗粒计数器：采用光散射原理，对液体或气体中的颗粒进行自动计数与粒径分类；具备高灵敏度与高重复性。

2.扫描电子显微镜配合能谱仪：提供颗粒微观形貌的高分辨率图像，并能对单个颗粒进行元素成分分析。

3.激光粒度分析仪：通过激光衍射原理，快速分析悬浮液中颗粒群的体积粒径分布。

4.膜重法分析系统：通过精密过滤与称重，测定液体样品中不溶性颗粒物的总质量浓度。

5.超声波萃取与离子色谱联用系统：用于萃取样品表面污染物，并精确分析其中阴阳离子的种类与含量。

6.自动颗粒检测系统：集成光学成像与图像分析算法，对规则表面上的颗粒进行自动识别、计数与尺寸测量。

7.粒子冲击噪声检测系统：通过声学传感器探测密封元器件内部自由颗粒在受冲击时产生的噪声信号。

8.洁净室在线悬浮粒子监测系统：由多个采样点与中央控制器组成，实现对生产环境空气洁净度的连续实时监控与数据记录。

9.聚焦光束反射测量仪：实时在线监测流动悬浮液中颗粒的数量与粒径变化，适用于过程控制。

10.显微红外光谱仪：对采集到的单个颗粒进行红外光谱扫描，鉴别其有机高分子成分或官能团结构。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质