球差电镜

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.点分辨率测试：基准值≤0.08nm（200kV加速电压）
2.信息极限测定：典型值≤0.05nm（单色器开启状态）
3.像散校正量：残余像散≤5nm（明场像模式）
4.能量分辨率：≤0.3eV（EELS谱仪配置）
5.束流稳定性：波动率≤0.2%/h（连续工作模式）

检测范围

1.纳米材料：金属/氧化物纳米颗粒（1-100nm）、二维材料（石墨烯/MoS₂）
2.半导体器件：FinFET结构、量子阱异质结
3.催化剂材料：负载型金属催化剂（Pt/C,Pd/Al₂O₃）
4.金属合金：高熵合金晶界结构、析出相成分
5.生物样品：冷冻固定蛋白质复合体（需配备低温样品杆）

检测方法

1.ASTME3060-16：透射电镜图像分辨率测定规程
2.ISO16700:2016：微束分析-电子探针-能谱定量分析通则
3.GB/T30544.5-2019：纳米科技术语第5部分：纳米/亚纳米尺度测量
4.ISO21363:2020：纳米技术-透射电子显微镜颗粒尺寸分布测定
5.GB/T36065-2018：纳米材料表征用透射电子显微镜测量方法指南

检测设备

1.ThermoFisherTitanThemisZ：配备单色器与双球差校正器，信息极限0.05nm
2.JEOLARM300F：冷场发射枪配置，STEM分辨率0.078nm
3.HitachiHF5000：六极球差校正系统，支持4D-STEM技术
4.NionUltraSTEM200：超高真空设计（≤510⁻⁸Pa），配备GIF量子能谱仪
5.FEITalosF200X：SuperXEDS系统（4个SDD探测器），Dual-X能量过滤器
6.ZeissLibra200MC：单色场发射源，单原子灵敏度能谱分析
7.JEOLJEM-ARM200FNEO：原子级元素面分布分析（原子探针模式）
8.ThermoFisherSpectra300：单色器+球差校正复合系统，支持in-situ实验
9.HitachiHD-2700：专用STEM模式（暗场分辨率0.09nm）
10.FEITecnaiOsiris：ChemiSTEM技术（X-FEG电子枪+4个Super-X探测器

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质