等离子体波长检测摘要:等离子体波长检测是评估等离子体光学特性的关键技术指标之一,主要应用于半导体、纳米材料及光学镀膜等领域。检测核心包括波长范围、峰值强度、半峰宽等参数分析,需通过高精度光谱仪及标准化测试流程确保数据可靠性。本文重点阐述检测项目分类、适用材料范围、国际/国家标准方法及主流设备选型依据。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1. 等离子体共振峰波长:测量范围200-1500nm,精度±0.2nm
2. 半峰全宽(FWHM):分辨率≤1nm,重复性误差<3%
3. 消光系数:测量精度±0.005@632.8nm
4. 散射强度分布:角度分辨率0.1°,动态范围105:1
5. 时间分辨衰减特性:时间分辨率10ps-10s可调
1. 半导体纳米线/量子点材料(GaAs、InP等III-V族化合物)
2. 贵金属纳米颗粒(金/银/铜纳米球/棒/立方体)
3. 光学薄膜涂层(TiO2/SiO2多层膜系)
4. 等离子体晶体阵列(周期结构超表面)
5. 生物传感器芯片(表面等离子体共振传感元件)
ASTM E2721-16 紫外-可见-近红外光谱反射率标准测试法
ISO 18473-3:2018 纳米颗粒光学特性表征规范
GB/T 32672-2016 纳米材料紫外可见漫反射光谱测试通则
ISO 21254-1:2011 激光诱导击穿光谱法(LIBS)
GB/T 34879-2017 微区光谱分析技术导则
1. Horiba LabRAM HR Evolution:共焦显微拉曼光谱系统,空间分辨率200nm
2. Agilent Cary 7000 UV-Vis-NIR:全波段分光光度计,波长精度±0.08nm
3. Malvern Panalytical Zetasizer Ultra:动态光散射仪,粒径检测下限0.3nm
4. Ocean Insight FX系列光纤光谱仪:积分时间10ms-10min可调
5. J.A. Woollam M-2000V型椭偏仪:70°入射角测量精度±0.01°
6. Hamamatsu C13027时间相关单光子计数器:时间分辨率25ps
7. Bruker Senterra II显微光谱系统:配置532/633/785nm多波长激光源
8. Shimadzu ICPE-9820等离子体发射光谱仪:波长范围167-852nm
9. Renishaw inVia Qontor拉曼成像系统:共聚焦模式空间分辨率<1μm
10. PerkinElmer Lambda 1050+双单色器系统:杂散光<0.00007%T
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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