单分子薄膜检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.膜层厚度测量：分辨率0.1nm级，测量范围1-500nm

2.表面粗糙度分析：Ra值精度0.05nm，扫描面积1010μm

3.接触角测定：测量误差≤0.5，温度控制0.1℃

4.化学组成表征：XPS检测限0.1at%，能谱分辨率≤0.5eV

5.机械性能测试：纳米压痕载荷范围0.1-500mN，模量测量误差＜5%

检测范围

1.有机半导体薄膜：包括PEDOT:PSS、PTAA等导电聚合物薄膜

2.金属氧化物薄膜：ITO、AZO等透明导电氧化物涂层

3.自组装单分子层：硫醇类、硅烷类化合物修饰表面

4.生物分子薄膜：蛋白质/DNA固定化功能涂层

5.二维材料薄膜：石墨烯、MoS₂等原子层沉积结构

检测方法

ASTME2865-12：椭圆法测定光学薄膜厚度标准规程

ISO14708-3:2017：植入式医疗器械表面涂层测试规范

GB/T33523-2017：微纳米薄膜厚度测量通用技术条件

ISO18115-2:2021：表面化学分析术语标准（XPS部分）

GB/T3505-2020：产品几何技术规范表面结构轮廓法

检测设备

J.A.WoollamM-2000V型光谱椭圆仪：宽光谱（190-1700nm）膜厚分析系统

BrukerDimensionIcon原子力显微镜：PeakForceTapping模式表面形貌表征

KrssDSA100E接触角测量仪：高温高压环境接触角分析模块

ThermoScientificK-AlphaX射线光电子能谱仪：单色化AlKαX射线源（1486.6eV）

Agilent5500SPM系统：电学特性与机械性能联用测试平台

HysitronTIPremier纳米压痕仪：动态力学分析（DMA）功能模块

RenishawinViaQontor共聚焦拉曼光谱仪：空间分辨率＜300nm的化学成像系统

VeecoDekTakXTL轮廓仪：12mm量程台阶高度测量装置

MalvernPanalyticalEmpyreanX射线衍射仪：薄膜专用掠入射模式（GIXRD）

ParkSystemsNX20扫描探针显微镜：大气与真空环境双模式AFM系统

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质