检测项目1.螺纹精度检测:中径公差0.02mm,牙型角55/60偏差≤3,通止规全检2.抗拉强度测试:800-1200MPa载荷范围,屈服强度偏差≤5%3.维氏硬度测试:HV200-400梯度分布,芯部与表层硬度差≤15%4.表面缺陷分析:裂纹深度≤0.05mm,折叠长度<1/4螺距5.镀层厚度测量:锌层5-15μm,镍层3-8μm(X射线荧光法)6.头部扭转强度:扭矩值12-45Nm(M6-M20规格)7.盐雾试验评级:中性盐雾72h锈蚀面积<5%检测范围1.碳钢螺钉(Q235/45#/10B21)2.
检测项目1.总谐波失真(THD):测量基波与谐波分量比值(0.001%-10%范围)2.互调失真(IMD):评估双音信号交叉调制产物(0.005dB精度)3.信噪比(SNR):量化有效信号与噪声电平差值(动态范围≥120dB)4.频率响应特性:验证20Hz-100kHz频段内幅度波动(0.1dB容差)5.相位失真:测定信号相位偏移量(分辨率0.01)检测范围1.高保真音响系统:功放模块/DAC转换器/扬声器单元2.通信基站设备:射频功率放大器/混频器模块3.工业控制系统:变频驱动器/伺服电机控制器4.医疗
检测项目1.纯度分析:SnO₂含量≥99.9%,采用差减法计算杂质总量2.晶型结构:四方相金红石型占比≥98%,半峰宽≤0.153.粒径分布:D10≤30nm,D50=50-200nm,D90≤500nm(激光粒度仪)4.比表面积:BET法测定3-50m/g(氮气吸附)5.杂质元素:Fe≤50ppm,Cu≤20ppm,Pb≤10ppm(ICP-MS定量限0.01ppm)检测范围1.电子陶瓷材料:压敏电阻器、热敏电阻基体2.透明导电薄膜:ITO靶材前驱体3.锂离子电池负极材料:SnO₂/C复合材料4.催化剂
检测项目1.非线性吸收系数(β):测量范围10-12-10-8cm/W,精度5%2.双光子吸收截面(σTPA):测试波长700-1600nm,分辨率0.1GM3.激发波长依赖性:扫描步长5nm,功率密度0.1-10GW/cm4.脉冲宽度影响分析:脉宽范围50fs-1ps可调5.样品损伤阈值测试:能量密度测量上限100J/cm检测范围1.有机半导体材料:包括聚噻吩衍生物、酞菁类化合物等2.无机纳米材料:量子点、金属氧化物纳米颗粒等3.生物成像探针:荧光蛋白标记物、基因编码探针4.光学限幅器件:富勒烯复合材料
检测项目1.含量测定:采用高效液相色谱法(HPLC)定量分析主成分含量范围(0.1%-99.9%);2.纯度分析:通过气相色谱-质谱联用(GC-MS)检测杂质总量(≤0.5%);3.异构体比例:核磁共振波谱(NMR)测定顺式/反式异构体比值(误差0.3%);4.残留溶剂:顶空气相色谱法(HS-GC)检测甲醇、乙醇等溶剂残留(限度≤500ppm);5.重金属检测:电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)测定铅、砷等元素(限量≤10ppm)。检测范围1.药物原料:片剂、胶囊及注射液中活性成分的定量分析;2.食品添
检测项目1.纯度测定:采用面积归一化法测定主成分含量≥99.5%2.水分含量:卡尔费休法测定游离水≤0.1%(w/w)3.残留溶剂:GC-FID检测甲苯≤500ppm、四氢呋喃≤300ppm4.硅含量分析:ICP-OES测定硅元素占比28.5%-29.5%5.熔点测定:毛细管法确认熔点范围-20℃至-15℃检测范围1.医药中间体:用于核苷酸保护反应的硅烷化试剂2.高分子材料:聚硅氧烷合成原料的批次验收3.电子封装材料:半导体封装胶的质量控制4.有机合成原料:格氏试剂制备用前驱体检验5.工业催化剂:负载型催
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