厚度极限偏差测试

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.金属板材与带材厚度测试：平均厚度测定、最小厚度点定位、厚度均匀性评价、边部减薄量测量、同板差分析。

2.塑料薄膜与片材厚度测试：横纵向厚度分布测量、厚度极限偏差计算、厚度波动系数分析、卷材端面厚度轮廓扫描。

3.涂层与镀层厚度测试：局部涂层厚度测量、平均镀层厚度测定、涂层最小厚度确认、涂层厚度均匀性评估。

4.橡胶制品厚度测试：成品关键部位厚度测量、厚度均匀性检查、含织物层制品总厚度测试。

5.纸张与纸板厚度测试：单张厚度测定、层积厚度测量、紧度计算、厚度方向压缩性测试。

6.复合材料层压板厚度测试：总厚度测量、各单层厚度评估、厚度公差符合性验证、固化后厚度收缩分析。

7.陶瓷基片与基板厚度测试：中心与四角厚度测量、厚度平行度检测、厚度极限偏差统计过程控制。

8.硅片与半导体晶圆厚度测试：全局厚度分布映射、总厚度变化计算、局部厚度偏差分析、边缘去除区域厚度测量。

9.玻璃制品厚度测试：平板玻璃厚度均匀性测试、曲面玻璃不同曲率点厚度测量、玻璃瓶罐壁厚分布检测。

10.纤维织物与非织造布厚度测试：在规定压强下的厚度测定、厚度蓬松度评估、压缩回弹性相关厚度测试。

11.金属管材与棒材壁厚测试：圆周方向壁厚均匀性检测、轴向壁厚变化测量、最小壁厚点定位。

12.光学薄膜与滤光片厚度测试：多层膜系总厚度测量、单层膜厚监控、厚度偏差对光学性能影响评估。

13.印刷电路板厚度测试：基板总厚度测量、铜箔厚度检测、阻焊层厚度均匀性检查。

14.注塑与压塑成型件厚度测试：塑件肉厚测量、加强筋与壁厚过渡区域厚度检查、缩痕对应区域厚度分析。

15.皮革与合成革厚度测试：全张厚度均匀性测定、部位厚度差异分析、多层复合革总厚度测量。

检测范围

冷轧钢板、热镀锌板、铝塑复合板、聚酯薄膜、聚乙烯保鲜膜、油漆涂层、电镀镍层、汽车密封条、输送带、绝缘纸板、覆铜板、氧化铝陶瓷基板、单晶硅片、平板玻璃、汽车挡风玻璃、涤纶织物、熔喷无纺布、不锈钢无缝管、增透膜、多层印制电路板、手机外壳塑件、全粒面牛皮革

检测设备

1.数显千分尺：用于精确测量金属、塑料等硬质材料的局部点厚度；具备数据输出功能，可进行统计分析。

2.激光测厚仪：用于非接触式在线或离线测量薄膜、片材的厚度；测量速度快，可进行横向扫描获得厚度轮廓。

3.超声波测厚仪：用于测量金属、塑料、玻璃等单一材质产品的厚度，尤其适用于仅能单侧接触的工件。

4.涂层测厚仪：专用于测量基体表面上涂层、镀层、漆膜等覆盖层的厚度；根据原理可分为磁性法、涡流法等多种类型。

5.接触式厚度计：配备测量台和测头，通过恒定的接触压力测量纸张、织物、橡胶等软质或可压缩材料的厚度。

6.光学干涉仪：用于超高精度测量光学薄膜、硅片、精密元件的厚度与表面形貌；基于光波干涉原理，分辨率可达纳米级。

7.电容式测厚传感器：用于非接触测量非金属薄膜、薄板的厚度；通过检测电容变化反映被测物厚度，常用于生产线连续测量。

8.X射线荧光测厚仪：用于无损测量镀层、涂层的厚度及成分；通过分析材料受激发后产生的特征X射线来实现测量。

9.β射线反向散射测厚仪：利用β射线反向散射原理，专用于测量薄材（如纸张、塑料薄膜）的单位面积质量或厚度。

10.三维光学扫描仪：通过结构光或激光扫描获取工件表面的三维点云数据，可间接计算复杂曲面工件的局部厚度分布。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质