集成电路安全浓度分析

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.重金属元素分析：铅含量测定、镉含量测定、汞含量测定、六价铬含量测定。

2.卤素元素检测：氯元素总量测定、溴元素总量测定、氟元素含量测定、碘元素含量测定。

3.阻燃剂相关物质：多溴联苯类化合物测定、多溴二苯醚类化合物测定。

4.邻苯二甲酸酯类检测：邻苯二甲酸二异丁酯测定、邻苯二甲酸二丁酯测定、邻苯二甲酸丁苯甲酯测定、邻苯二甲酸二乙基己酯测定。

5.其他有机污染物：短链氯化石蜡含量分析、有机锡化合物测定。

6.掺杂浓度评估：特定杂质原子浓度测定、离子注入剂量验证。

7.表面污染物检测：有机残留物浓度分析、无机离子污染水平测定。

8.气体释放浓度测试：挥发性有机化合物释放量测定、特定气体浓度监测。

9.材料均质性分析：不同部件中有害物质分布均匀性检测。

10.迁移风险评估：有害物质在模拟使用条件下的迁移浓度测定。

11.总卤素含量计算：多种卤素元素累积浓度汇总分析。

12.失效相关浓度验证：器件老化过程中有害物质释放浓度跟踪。

检测范围

硅晶圆、封装芯片、印刷电路板、引线框架、塑封材料、陶瓷基板、焊锡材料、键合线、芯片载体、集成电路模块、半导体器件成品、电子元器件组件、微电子封装体、功率器件模块、传感器芯片、存储器件、逻辑电路单元、模拟电路组件。

检测设备

1.电感耦合等离子体质谱仪：用于痕量重金属元素和杂质的精确浓度定量分析；具备高灵敏度和多元素同时检测能力。

2.离子色谱仪：主要用于卤素离子和无机阴离子的分离与浓度测定；可实现低浓度水平下的准确分离。

3.X射线荧光光谱仪：用于材料中重金属元素的无损快速浓度筛查；适用于固体样品的表面和体相分析。

4.气相色谱质谱联用仪：针对有机污染物和邻苯二甲酸酯类的浓度定性定量检测；具有高分辨率分离功能。

5.扫描电子显微镜：结合能谱附件用于微区元素浓度分布观察；可提供形貌与成分的综合信息。

6.原子吸收光谱仪：专用于特定重金属元素的浓度精确测定；采用火焰或石墨炉原子化技术。

7.紫外可见分光光度计：用于六价铬等特定物质的显色反应浓度分析；操作简便且灵敏度较高。

8.热脱附气相色谱仪：主要检测材料中挥发性有机化合物的释放浓度；模拟实际使用温度条件。

9.四探针电阻测试仪：辅助评估掺杂浓度对电学性能的影响；用于半导体材料电阻率相关浓度验证。

10.扫描声学显微镜：用于封装内部缺陷与潜在污染物分布的非破坏性浓度相关分析；可探测层间异常。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质