物理工艺杂质分析

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.颗粒物分析：可见颗粒统计，微小颗粒计数，颗粒粒径分布，颗粒形貌观察。

2.异物识别分析：金属异物识别，非金属异物识别，纤维异物判别，碎屑来源分析。

3.表面残留物分析：油污残留检测，粉尘残留检测，加工碎屑残留检测，附着物分布观察。

4.洁净度检测：表面洁净度评估，工艺洁净度检测，清洗后残留检查，污染等级判定。

5.粒径与粒形分析：颗粒粒径测量，粒形分类，长径比分析，团聚状态观察。

6.显微形貌分析：表面形貌观察，断面杂质观察，孔隙内异物检查，微区污染定位。

7.沉积物分析：沉积颗粒检测，沉积层厚度观察，沉积物组成判别，沉积区域分布分析。

8.磨损碎屑分析：磨粒识别，磨损颗粒分类，摩擦碎屑观察，异常磨耗产物分析。

9.过滤残渣分析：滤膜截留物检测，残渣质量测定，残渣颗粒分类，过滤前后杂质量对比。

10.工艺污染物分析：切削残留检测，抛光残留检测，研磨介质残留检测，转移性污染物排查。

11.无机杂质分析：矿物颗粒识别，氧化物杂质判别，硅质杂质检测，盐类结晶物观察。

12.有机杂质分析：聚合物碎片识别，胶黏物残留检测，涂层脱落物分析，炭化残留观察。

检测范围

金属零部件、机械加工件、精密结构件、注塑件、橡胶制品、涂层材料、薄膜材料、密封件、过滤材料、清洗液残渣、润滑介质沉积物、管路内壁附着物、容器底部沉积物、粉体材料、颗粒材料、片材制品、纤维材料、复合材料、电子组装件、包装材料

检测设备

1.光学显微镜：用于观察杂质颗粒、表面附着物及微小异物的形貌特征，适合进行初步筛查与分类。

2.体视显微镜：用于较大颗粒、碎屑和表面缺陷的立体观察，可辅助异物挑选和位置确认。

3.电子显微镜：用于高倍观察颗粒表面细节、断口形貌及微区污染状态，适合精细形貌分析。

4.能谱分析仪：用于判别杂质颗粒的元素组成，可辅助分析异物来源和污染类型。

5.激光粒度仪：用于测定颗粒粒径分布及颗粒集中区间，适合粉体和分散体系杂质分析。

6.颗粒计数器：用于统计液体或气体中颗粒数量及粒径等级，适合洁净度评价和污染监测。

7.图像分析系统：用于颗粒尺寸、面积、圆整度及长径比测量，可实现颗粒形态定量分析。

8.过滤装置：用于截留样品中的杂质颗粒和残留物，便于后续称量、观察及分类分析。

9.干燥设备：用于滤膜、残渣或沉积物样品的预处理，保证称量和观察过程的稳定性。

10.分析天平：用于测定残渣质量、过滤前后质量变化及微量沉积物含量，适合定量评价。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质