电阻率测试

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.体积电阻率测试：材料单位体积内的电阻值测量，评估材料本征导电或绝缘性能。

2.表面电阻率测试：材料表面层对电流的阻碍能力测量，反映表面导电特性与洁净度。

3.方块电阻测试：针对均匀薄膜材料，测量其一个正方形区域的电阻值，用于评估薄膜导电均匀性。

4.接触电阻测试：测量两个导体接触界面处的附加电阻，评估连接器、开关等元件的电接触性能。

5.绝缘电阻测试：在施加规定直流电压下，测量绝缘材料或绝缘结构的电阻值，评估其绝缘有效性。

6.介电常数测试：间接关联材料极化能力与电阻特性，评估绝缘材料在电场中的储能性能。

7.介质损耗角正切测试：评估绝缘材料在交变电场中能量损耗的比例，反映材料绝缘质量。

8.导电薄膜电阻分布测试：测量透明导电膜等功能薄膜表面电阻的均匀性分布。

9.晶圆电阻率与径向分布测试：测量半导体晶圆片的电阻率及其在晶圆面上的分布均匀性。

10.导电胶/浆料电阻率测试：测量固化后导电粘接剂或印刷浆料的体电阻率，评估其导电性能。

11.导电纤维/织物电阻率测试：测量功能性纺织材料或纤维的电阻值，评估其抗静电或导电性能。

12.电阻温度系数测试：测量材料电阻率随温度变化的系数，评估材料电学性能的温度稳定性。

13.迁移率与载流子浓度测试：通过霍尔效应等方法，测量半导体材料中载流子的迁移率与浓度。

14.霍尔系数测试：确定半导体材料的导电类型、载流子浓度及迁移率等关键参数。

15.高阻材料绝缘电阻测试：针对极高电阻值的绝缘材料，进行长时间稳定测量，评估其绝缘可靠性。

检测范围

硅晶圆、砷化镓晶圆、导电银浆、绝缘漆、印刷电路板基材、柔性导电薄膜、导电胶粘剂、电阻器基体、半导体封装材料、热界面材料、导电纤维织物、锂电池电极片、溅射靶材、陶瓷基板、金属箔、导电油墨、碳纳米管薄膜、石墨烯片、有机发光二极管基板、压敏电阻陶瓷

检测设备

1.四探针电阻测试仪：用于精确测量半导体材料、薄膜的电阻率与方块电阻；采用四根等间距探针消除接触电阻影响。

2.高阻计/绝缘电阻测试仪：用于测量绝缘材料、陶瓷、塑料等高电阻材料的体积与表面电阻率；具备高电压输出与微弱电流检测能力。

3.阻抗分析仪：用于宽频率范围内测量材料的电阻、电容、电感等复合阻抗参数；适用于介电常数、介质损耗等测试。

4.霍尔效应测试系统：用于测量半导体材料的霍尔电压、电阻率、载流子浓度、迁移率及霍尔系数；通常在可控磁场与温度环境下进行。

5.探针台：为晶圆、芯片等微小样品提供精密定位与电学接触平台；可与多种测量仪表联用进行微区电阻特性测试。

6.扫描探针显微镜：可在纳米尺度上测量材料表面的电学特性，如导电性分布；用于前沿纳米材料与器件的研究。

7.导电薄膜测试仪：专门用于测量透明导电氧化物薄膜、金属薄膜等材料的方块电阻与电阻均匀性；常配备四探针或非接触式测量头。

8.高温电阻测试仪：用于测量材料在高温环境下的电阻率变化；配备高温炉与专用电极，研究材料电学性能的温度依赖性。

9.超导材料电阻测试系统：用于在极低温度下测量超导材料的电阻-温度特性，确定其超导转变温度；集成低温恒温器与精密测量电路。

10.方块电阻测试仪：专用于快速、无损测量大面积薄膜或涂层材料的方块电阻值；适用于生产线上的在线或离线质量控制。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质