透射电子显微镜(TEM-EDS测试)

2021-05-10 15:51:04 关键词：透射电子显微镜相关：

摘要：透射电子显微镜(TEM-EDS测试)

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仪器名称：	场发射透射电镜（TEM）	型号：	Tecnai G2 F30/F20 JEOL-2100F FIB+球校E电镜
检测项目：	形貌观察（磁性、非磁样品、生物样均可）选区电子衍射（环衍射、点衍射） a高分辨像（磁性、非磁样品、生物样均可） EDS能谱（点扫、线扫、面扫）明场、暗场 Mapp ing 球差电镜
应用范围：	可以对各种材料的物质内部微结构进行观察，电子衍射分析及高分辨电子显微术研究，材料粒径统计，晶体结构及晶体性能进行研究，配合能谱仪可以对各种元素进行定性、及半定量的微区分析，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、环境、光电子等领域。
制样要求：	块体样品，要求样品大小为直径3mm的圆，厚度为200mm以下：粉末和液体样品，要求样品能够均匀分散在支持膜上并且干燥，粉末样>0.01g，液体样>5ml；生物样可做超薄冷冻切片制；金属样、陶瓷样、块状样可以F1B制样离子减薄需要样品机械磨样到100m。有3D-TEM，EELS、STEM、超薄冷冻切片、FIB、饿酸熏染制样等需求可进一步咨询。