功能阻抗介电测试

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.阻抗特性测试：阻抗幅值，相位角，等效串联电阻，等效串联电感，阻抗频率曲线分析。

2.介电常数测试：相对介电常数，介电常数实部与虚部，介电常数随频率变化特性。

3.介质损耗测试：介质损耗角正切值，损耗因子，品质因数测试。

4.导纳测试：导纳幅值，导纳相位，并联等效电导与电纳。

5.散射参数测试：反射系数，传输系数，插入损耗，回波损耗。

6.电容与电感参数测试：高频等效电容，高频等效电感，自谐振频率。

7.电阻特性测试：直流电阻，交流电阻，绝缘电阻。

8.温度特性测试：阻抗温度系数，介电常数温度稳定性，高温与低温环境下的参数漂移。

9.频率特性测试：宽频带阻抗扫描，介电谱分析，特征频率点参数。

10.可靠性评估测试：高温高湿负载寿命测试后的参数变化，耐电压测试后的性能评估。

检测范围

多层陶瓷电容器、片式电感器、磁珠、射频电阻器、晶体谐振器、声表面波滤波器、高频连接器、同轴电缆、印刷电路板基材、半导体封装材料、微波介质陶瓷、柔性电路、天线组件、微波吸收材料、绝缘胶膜、电子陶瓷基板、高频芯片元件、压电材料、导热绝缘垫片、高频复合介质

检测设备

1.阻抗分析仪：用于精确测量电子元件在宽频率范围内的阻抗、导纳、电感、电容等参数；具备高精度与自动平衡电桥技术。

2.矢量网络分析仪：用于测量元器件或材料的散射参数；可进行反射与传输特性分析，适用于高频及微波频段。

3.介电常数测试仪：专门用于测量固体、液体或薄膜材料的介电常数和介质损耗；通常基于平行板电容器原理或谐振法。

4.高精度LCR表：用于在特定频率点测量电感、电容、电阻及衍生参数；操作简便，测试速度快。

5.扫描频率阻抗分析系统：集成了信号源与接收机，可进行宽频带阻抗频谱扫描与分析；支持自定义频率扫描步进。

6.高温介电测试系统：在可控温度环境下测量材料的介电性能；包含高温测试夹具与温控装置。

7.探针台测试系统：用于晶圆上或微小尺寸样品的在片高频参数测试；配备精密微波探针和校准基板。

8.谐振腔测试装置：基于谐振法测量介质材料在特定频率点的介电常数与损耗；测量精度高，适用于低损耗材料。

9.同轴测试夹具：用于连接被测元器件与测试仪器，进行反射或传输测量；需经过系统误差校准。

10.环境试验箱：提供高温、低温、湿热等可控测试环境，用于评估元件参数在不同环境条件下的稳定性。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质