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抽真空测试

2026-01-19关键词:抽真空测试,中析研究所,CMA/CNAS资质,北京中科光析科学技术研究所相关:
抽真空测试

抽真空测试摘要:抽真空测试是评估电子元器件及半导体封装气密性与内部环境稳定性的关键检测手段。该测试通过模拟真空环境,精确测量封装体的极限真空度、泄漏率及压力变化,从而判断其密封完整性、内部材料放气特性及长期可靠性,对保障高性能芯片、光电器件及航天级元器件的品质与寿命至关重要。

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.静态密封性能测试:极限真空度测定,泄漏率检测,压力爬升率测试。

2.动态抽气特性测试:抽气速率评估,到达指定真空度所需时间测试,系统有效容积标定。

3.材料放气率测试:封装内部材料总放气量测定,水汽脱附率测试,有机挥发物释放率评估。

4.密封寿命评估:高温烘烤下的真空度维持测试,温度循环后的泄漏率复测,长期静置压力监控。

5.残余气体分析:封装内部残余气体成分定性分析,水氧分压定量检测,有害气体含量测定。

6.真空维持能力测试:封口后内部真空度随时间衰减测试,真空寿命预测。

7.微泄漏检测:氦质谱法细检漏,氟油法粗检漏,压力变化法泄漏定位。

8.温度与真空关联测试:高温环境下真空度稳定性测试,低温对密封性能的影响评估。

9.封裝工艺验证测试:不同封装工艺后的真空度对比,焊料或胶粘剂固化后的放气特性测试。

10.环境适应性测试:机械振动或冲击后的真空密封性检查,恒定湿热条件后的真空度测试。

检测范围

陶瓷封装集成电路、金属管壳功率器件、晶圆级真空封装芯片、微型光电模块、真空继电器、行波管、磁控管、航天用传感器、真空绝热板、半导体激光器、密闭性电子连接器、真空电容、高纯度材料存储容器、科研用真空样品腔体、封装用环氧树脂材料、金属化陶瓷盖板、密封焊料样品、封装用玻璃粉、真空获得用吸附剂

检测设备

1.高精度复合真空计:用于测量从大气压至极高真空范围内的压力值;通常包含皮拉尼计和冷阴极电离计等多个传感器。

2.氦质谱检漏仪:用于对密封器件进行无损检漏,定位并定量微小的泄漏点;灵敏度极高,可检测极微量的氦气泄漏。

3.静态升压法测试系统:用于测量密封器件内部的泄漏率或材料放气率;通过监测隔离后真空腔内的压力随时间上升的速率进行计算。

4.四极杆残余气体分析仪:用于分析密闭空间内残余气体的具体成分与分压;可定性识别水汽、氧气、氮气及各类碳氢化合物。

5.真空烘烤系统:用于在抽真空的同时对样品进行加热,加速内部材料脱气;配备温控与压力实时监测装置。

6.标准漏孔:作为检漏仪的校准基准,提供已知且恒定的微小气体流量;用于标定检漏系统的灵敏度和建立定量关系。

7.抽气速率测试装置:用于测量真空泵对特定测试罩或腔体的有效抽气速度;通过监测压力变化与已知进气量来计算。

8.温度循环试验箱:用于对真空封装器件进行高低温循环应力试验;评估温度交变对封装密封性能的长期影响。

9.真空封管机:用于在实验室环境下对样品进行抽真空并完成熔封;适用于小批量或研发阶段的封装工艺验证。

10.真空压力校准装置:用于对各类真空计进行量值溯源与校准;确保压力测量数据的准确性与可靠性。

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

中析仪器资质

中析抽真空测试-由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师

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