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补偿运放检测

2025-05-27 关键词:补偿运放测试机构,补偿运放测试周期,补偿运放测试标准 相关:
补偿运放检测

补偿运放检测摘要:检测项目1.输入失调电压(Vos):测量范围10μV至5mV,精度≤0.5%2.开环增益(Aol):测试频段10Hz-1MHz,典型值80dB至140dB3.共模抑制比(CMRR):测试条件Vcm=12V时≥90dB4.电源抑制比(PSRR):1V电源波动下≥100dB@120Hz5.转换速率(SR):测量范围0.1V/μs至3000V/μs6.建立时间(SettlingTime):0.01%精度下≤500ns7.输入偏置电流(Ib):测量下限达10pA级检测范围1.工业控制用精密运放:OPA2188/A

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.输入失调电压(Vos):测量范围10μV至5mV,精度≤0.5%

2.开环增益(Aol):测试频段10Hz-1MHz,典型值80dB至140dB

3.共模抑制比(CMRR):测试条件Vcm=12V时≥90dB

4.电源抑制比(PSRR):1V电源波动下≥100dB@120Hz

5.转换速率(SR):测量范围0.1V/μs至3000V/μs

6.建立时间(SettlingTime):0.01%精度下≤500ns

7.输入偏置电流(Ib):测量下限达10pA级

检测范围

1.工业控制用精密运放:OPA2188/AD8629系列

2.医疗设备低噪声运放:LT1028/AD797等型号

3.汽车级高可靠性运放:LM2904-Q1/TLE2027系列

4.高速通信运放:THS4631/ADA4817系列

5.高温环境运放:HTOP-08/MAX44250系列

检测方法

1.IEC60748-4-3:2017《半导体器件-集成电路-运算放大器测试方法》

2.GB/T4377-2018《半导体分立器件和集成电路试验方法》

3.JEDECJESD78E:2020《集成电路闩锁效应测试》

4.MIL-STD-883KMETHOD3015.8《线性集成电路参数测试》

5.ISO16750-2:2012《道路车辆电气负荷试验标准》

检测设备

1.KeysightB1500A半导体参数分析仪:支持nA级电流分辨率

2.TektronixMDO3054混合域示波器:带宽500MHz/采样率2.5GSa/s

3.Chroma33622A功率器件测试系统:最大输出40V/3A

4.AdvantestR3753E高频LCR表:频率范围20Hz至8MHz

5.Fluke6100B电能标准源:电压精度0.01%rdg0.003%rg

6.AgilentN6705B直流电源分析仪:四通道独立输出/18bit分辨率

7.Keithley2636B源表:最小电流分辨率10fA

8.Rohde&SchwarzRTM3004示波器:16bit垂直分辨率/10GSa/s采样率

9.ESPECPL-3KPH气候试验箱:温度范围-70℃~+180℃

10.ThermoScientificTSQ9000质谱仪(材料成分分析)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

中析仪器 资质

中析补偿运放检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师

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