补偿运放检测摘要:检测项目1.输入失调电压(Vos):测量范围10μV至5mV,精度≤0.5%2.开环增益(Aol):测试频段10Hz-1MHz,典型值80dB至140dB3.共模抑制比(CMRR):测试条件Vcm=12V时≥90dB4.电源抑制比(PSRR):1V电源波动下≥100dB@120Hz5.转换速率(SR):测量范围0.1V/μs至3000V/μs6.建立时间(SettlingTime):0.01%精度下≤500ns7.输入偏置电流(Ib):测量下限达10pA级检测范围1.工业控制用精密运放:OPA2188/A
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1.输入失调电压(Vos):测量范围10μV至5mV,精度≤0.5%
2.开环增益(Aol):测试频段10Hz-1MHz,典型值80dB至140dB
3.共模抑制比(CMRR):测试条件Vcm=12V时≥90dB
4.电源抑制比(PSRR):1V电源波动下≥100dB@120Hz
5.转换速率(SR):测量范围0.1V/μs至3000V/μs
6.建立时间(SettlingTime):0.01%精度下≤500ns
7.输入偏置电流(Ib):测量下限达10pA级
1.工业控制用精密运放:OPA2188/AD8629系列
2.医疗设备低噪声运放:LT1028/AD797等型号
3.汽车级高可靠性运放:LM2904-Q1/TLE2027系列
4.高速通信运放:THS4631/ADA4817系列
5.高温环境运放:HTOP-08/MAX44250系列
1.IEC60748-4-3:2017《半导体器件-集成电路-运算放大器测试方法》
2.GB/T4377-2018《半导体分立器件和集成电路试验方法》
3.JEDECJESD78E:2020《集成电路闩锁效应测试》
4.MIL-STD-883KMETHOD3015.8《线性集成电路参数测试》
5.ISO16750-2:2012《道路车辆电气负荷试验标准》
1.KeysightB1500A半导体参数分析仪:支持nA级电流分辨率
2.TektronixMDO3054混合域示波器:带宽500MHz/采样率2.5GSa/s
3.Chroma33622A功率器件测试系统:最大输出40V/3A
4.AdvantestR3753E高频LCR表:频率范围20Hz至8MHz
5.Fluke6100B电能标准源:电压精度0.01%rdg0.003%rg
6.AgilentN6705B直流电源分析仪:四通道独立输出/18bit分辨率
7.Keithley2636B源表:最小电流分辨率10fA
8.Rohde&SchwarzRTM3004示波器:16bit垂直分辨率/10GSa/s采样率
9.ESPECPL-3KPH气候试验箱:温度范围-70℃~+180℃
10.ThermoScientificTSQ9000质谱仪(材料成分分析)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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