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非涅耳带片检测

2025-05-27 关键词:非涅耳带片测试机构,非涅耳带片测试方法,非涅耳带片测试标准 相关:
非涅耳带片检测

非涅耳带片检测摘要:检测项目1.衍射效率:测量波长范围400-1600nm,公差2%2.表面粗糙度:Ra值≤0.1μm(1mm1mm区域)3.环带定位精度:径向偏差≤1μm(50倍物镜)4.基底厚度均匀性:厚度公差0.02mm(Φ200mm样品)5.抗反射膜层附着力:划格法测试符合ISO24090级标准6.环境稳定性:温度循环(-40℃~+85℃)后形变≤λ/10@632.8nm检测范围1.聚合物基非涅耳带片(PMMA/PC材料)2.玻璃基底镀膜带片(K9/BK7光学玻璃)3.金属镀膜衍射带片(铝/金镀层厚度50-200nm

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.衍射效率:测量波长范围400-1600nm,公差2%
2.表面粗糙度:Ra值≤0.1μm(1mm1mm区域)
3.环带定位精度:径向偏差≤1μm(50倍物镜)
4.基底厚度均匀性:厚度公差0.02mm(Φ200mm样品)
5.抗反射膜层附着力:划格法测试符合ISO24090级标准
6.环境稳定性:温度循环(-40℃~+85℃)后形变≤λ/10@632.8nm

检测范围

1.聚合物基非涅耳带片(PMMA/PC材料)
2.玻璃基底镀膜带片(K9/BK7光学玻璃)
3.金属镀膜衍射带片(铝/金镀层厚度50-200nm)
4.红外波段硫系玻璃带片(8-12μm工作波长)
5.微结构复合带片(特征尺寸10-500μm)
6.UV固化树脂成型带片(硬度≥4H铅笔硬度)

检测方法

1.ISO9334:2012光学系统衍射效率测试规程
2.ASTMD7127-17非接触式表面轮廓测量标准
3.GB/T13323-2009光学零件面形偏差检验方法
4.ISO10110-5:2015光学元件表面缺陷评估
5.GB/T26331-2010光学薄膜激光损伤阈值测量
6.ISO9022-2:2015环境试验方法第2部分:冷热冲击

检测设备

1.ZYGOVerifire™XP/D激光干涉仪(波长632.8nm,PV精度λ/100)
2.BrukerContourGT-X3白光干涉轮廓仪(垂直分辨率0.1nm)
3.ShimadzuAIM-9000红外显微镜(15~1500连续变倍)
4.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜(120nm横向分辨率)
5.AgilentCary7000全能型分光光度计(175-3300nm光谱范围)
6.MitutoyoCMM-CrystaPlusM574三坐标测量机(MPEE=1.8+L/300μm)
7.ThermoScientificARLEQUINOX3000X射线衍射仪(角度重复性0.0001)
8.ESILaserSTAR激光损伤阈值测试系统(1064nm/10ns脉冲宽度)
9.Instron5944万能材料试验机(载荷分辨率0.001N)
10.VotschVT7002恒温恒湿箱(温度波动度0.3℃)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

中析仪器 资质

中析非涅耳带片检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师

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