XRD检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.物相鉴定：通过比对样品衍射图谱与标准数据库，识别和确认材料中的晶体物相种类与分布情况。

2.定量分析：基于各物相衍射强度数据，计算混合物中不同晶体组分的相对含量与比例。

3.晶体结构测定：分析衍射峰位置与强度，确定晶格参数、空间群和原子排列等结构信息。

4.晶粒尺寸评估：利用衍射峰宽化效应，通过谢乐公式计算平均晶粒尺寸及分布范围。

5.微观应变分析：检测衍射峰形变与位移，评估材料内部应力状态和晶格畸变程度。

6.晶体取向测量：通过极图或反极图分析，确定多晶材料中晶粒的择优取向与织构特征。

7.非晶态含量检测：对比晶体与非晶态衍射背景，估算样品中无定形相的比例与分布。

8.高温原位分析：在控温环境下进行衍射测试，监测材料相变过程与晶体结构随温度的变化。

9.薄膜厚度测定：基于薄膜衍射效应，计算涂层或薄膜层的厚度与均匀性参数。

10.残余应力测试：通过衍射角偏移量，评估材料表面或内部残余应力的大小与分布状态。

图片

检测范围

1.金属与合金材料：包括钢铁、铝合金、钛合金等，检测其相组成、晶粒细化及热处理后结构变化。

2.陶瓷与耐火材料：适用于氧化物、碳化物陶瓷等，分析晶体相稳定性、烧结过程与微观缺陷。

3.聚合物与复合材料：针对半结晶聚合物及纤维增强材料，评估结晶度、取向性与界面结构。

4.地质矿物样品：用于岩石、矿石中矿物鉴定，确定矿物种类、含量及成岩过程信息。

5.药品与化学品：检测晶体形态、多晶型转变及纯度，支持药物开发与质量控制。

6.纳米材料与粉末：包括纳米颗粒、碳纳米管等，分析晶粒尺寸、团聚效应及表面结构。

7.半导体与电子材料：适用于硅片、化合物半导体等，测定晶格匹配、缺陷密度与外延层质量。

8.建筑材料：如水泥、混凝土等，检测水化产物相组成与长期耐久性相关结构变化。

9.环境与土壤样品：用于污染物晶体形态分析，识别重金属化合物与矿物相转化。

10.生物材料与组织：包括骨骼、牙齿等生物矿物，分析晶体取向、矿化程度与病理变化。

检测标准

国际标准：

ASTM E975、ASTM E1426、ISO 16000、ISO 18516、ISO 14706、ISO 21283、ISO 20565、ISO 21587、ISO 22262、ISO 23145

国家标准：

GB/T 13221、GB/T 13301、GB/T 16594、GB/T 19077、GB/T 19587、GB/T 21650、GB/T 23988、GB/T 25995、GB/T 29173、GB/T 30705

检测设备

1.X射线衍射仪：核心设备，产生单色X射线并测量样品衍射角度与强度，用于物相与结构分析。

2.测角仪系统：控制样品与探测器相对运动，实现精确角度扫描与数据采集。

3.X射线发生器：提供稳定高能X射线源，确保衍射信号强度与分辨率符合测试要求。

4.探测器单元：如闪烁计数器或半导体探测器，用于高效接收和转换衍射信号为电信号。

5.样品台与夹具：支持多种样品形态安装，实现平移、旋转与倾斜运动，保证测试代表性。

6.单色器组件：过滤X射线束，去除杂散辐射，提高衍射图谱的信噪比与准确性。

7.冷却系统：维持X射线管与探测器温度稳定，防止过热导致数据漂移或设备损坏。

8.数据处理软件：用于图谱平滑、背景扣除、峰位拟合及数据库比对，输出定量分析结果。

9.高温附件装置：集成加热炉与温度控制器，支持原位高温衍射测试与相变监测。

10.校准标准样品：如硅或氧化铝标准块，定期校验仪器角度与强度精度，确保检测可靠性。

AI参考视频

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质