光点分辨率检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.光斑直径测量：包含1/e直径（μm）、FWHM全宽半高值（nm）
2.能量分布均匀性：中心区域5%波动范围（λ=632.8nm）
3.调制传递函数（MTF）：空间频率0-200lp/mm范围内对比度衰减曲线
4.斯特列尔比（StrehlRatio）：λ/14RMS波前误差下的成像质量系数
5.点扩散函数（PSF）：三维能量分布半峰宽（FWHM）≤0.8λ

检测范围

1.光学薄膜：AR/IR截止膜、分光膜等镀膜元件
2.半导体晶圆：CMOS/CCD图像传感器像素阵列
3.激光器件：VCSEL激光器出射光束质量
4.显微物镜：NA≥0.75的共聚焦显微系统
5.投影镜头：4K/8K超短焦光学引擎核心组件

检测方法

ASTME284-17光学系统分辨率标准测试方法
ISO12233:2017电子静态图片成像分辨率测量
GB/T26189-2010激光光束宽度测量方法
ISO15529:2010光学传递函数测定程序
GB/T17409-2019光学系统杂散光测试规范

检测设备

1.OphirSP928光束分析仪：测量直径0.1-25mm光束轮廓
2.ThorlabsBP209-IR/M红外光斑诊断系统：支持300-1700nm波长
3.KeyenceVK-X3000激光共聚焦显微镜：0.01μm级三维形貌重建
4.ZeissLSM980NLO多光子显微镜：配备32通道光谱探测器
5.MalvernPanalyticalMastersizer3000：亚微米级颗粒分析模块
6.HamamatsuC11440-22CU科学级CMOS相机：20482048像素分辨率
7.EdmundOpticsMTF测试台：符合ISO12233标准配置
8.NewportRSP310旋转台系统：角度定位精度0.005
9.ShimadzuAIM-9000红外显微镜：15μm空间分辨率FTIR系统
10.BrukerContourGT-X3白光干涉仪：垂直分辨率0.1nm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质