丙婉二氧化钯检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 纯度测定：二氧化钯含量≥99.95%（质量分数），采用差减法计算主成分占比

2. 粒径分布：D50值控制在50-200nm范围，D90/D10≤3.0

3. 比表面积：BET法测定比表面积≥25m²/g

4. 杂质元素含量：Ag≤0.002%、Cu≤0.001%、Fe≤0.003%（ICP-OES法）

5. 晶体结构分析：XRD法验证立方晶系特征峰（2θ=40.2°,46.7°,68.1°）

检测范围

1. 贵金属催化剂：包括氢化反应催化剂、燃料电池电极材料

2. 电子元器件：多层陶瓷电容器（MLCC）电极浆料

3. 化工中间体：氯钯酸铵等前驱体化合物

4. 电镀液体系：精密电子电镀用钯盐溶液

5. 回收贵金属：废旧电子元件中钯元素的二次提纯物料

检测方法

1. ASTM E1479-16《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定贵金属含量》

2. ISO 20203:2018《X射线衍射法测定晶体结构》

3. GB/T 15072.5-2008《贵金属合金化学分析方法 钯量的测定》

4. ASTM B962-17《金属粉末表观密度测定标准试验方法》

5. GB/T 21650.2-2008《压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度》

检测设备

1. Thermo Scientific iCAP 7400 ICP-OES：多元素同步分析系统（检出限0.1ppm）

2. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm

3. Micromeritics ASAP 2460比表面分析仪：BET法比表测量精度±1%

4. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：配备LynxEye阵列探测器

5. Shimadzu EDX-7000能量色散X荧光光谱仪：元素分析范围Na-U

6. Mettler Toledo XPR6微量天平：称量精度0.001mg

7. PerkinElmer STA 8000同步热分析仪：TG-DSC联用系统

8. Agilent 7900 ICP-MS：超痕量元素分析（ppt级检出限）

9. JEOL JSM-IT800扫描电镜：配备牛津EDS能谱系统

10. Metrohm 905 Titrando电位滴定仪：分辨率0.1μL

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质