粒度分级特性检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 粒径分布：测定D10/D50/D90值及跨度系数（Span Index），测量范围0.01-3500μm

2. 比表面积：采用BET多点法测定，精度±1%

3. 颗粒形貌：圆形度（Circularity）≥0.7判定为球形颗粒

4. 密度分布：振实密度与松装密度比差≤15%

5. 团聚指数：通过超声分散前后D50变化率评估

6. Zeta电位：测量范围±200mV，分辨率0.1mV

检测范围

1. 金属粉末：钛合金/铝合金/铜基粉末（粒径1-150μm）

2. 陶瓷原料：碳化硅/氧化铝/氮化硼粉体（0.5-100μm）

3. 药品颗粒：API原料药/药用辅料（纳米级至500μm）

4. 化工催化剂：分子筛/贵金属载体（介孔2-50nm）

5. 食品添加剂：二氧化硅/碳酸钙微粒（10-200目）

检测方法

1. 激光衍射法：ISO 13320:2020《粒度分析-激光衍射法》

2. 动态光散射法：GB/T 19627-2022《粒度分析-光子相关光谱法》

3. 筛分分析法：ASTM B214-22《金属粉末筛分标准规程》

4. 图像分析法：ISO 13322-2:2021《静态图像分析法》

5. 气体吸附法：GB/T 19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》

6. 沉降法：GB/T 19077-2016《粒度分析-重力沉降法》

检测设备

1. 马尔文 Mastersizer 3000：激光衍射仪（0.01-3500μm）

2. 丹东百特 BT-9300S：动态光散射纳米粒度仪（1nm-10μm）

3. 麦克仪器 TriStar II Plus：全自动比表面及孔隙度分析仪

4. FEI Quanta 650 FEG：场发射扫描电镜（分辨率1nm）

5. 布鲁克 Dimension Icon：原子力显微镜（Z向分辨率0.1nm）

6. Retsch AS200 control：电磁振动筛分机（20μm-20mm）

7. Quantachrome Autotap：振实密度测试仪（振动频率250次/min）

8. Micromeritics Sedigraph III Plus：X射线沉降粒度仪（0.1-300μm）

9. Horiba SZ-100Z：纳米电位分析仪（Zeta电位测量）

10. Malvern Morphologi 4：全自动显微图像粒度仪（256级灰度识别）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质