介质薄膜检测摘要:介质薄膜检测是评估功能性涂层材料性能的关键技术环节,主要针对光学、电子及防护领域的薄膜体系进行理化特性分析。核心检测指标包括厚度均匀性、折射率精度、附着力强度、表面粗糙度及耐候性参数。本检测需依据ISO、ASTM及GB/T标准体系执行,确保数据可追溯性与行业适用性。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1.膜层厚度:测量范围0.1nm-50μm,精度0.5%,采用非接触式干涉测量
2.折射率分析:光谱范围300-2500nm,精度0.002@632.8nm
3.附着力测试:划痕法临界载荷0-200N,压痕法维氏硬度HV0.01-HV1
4.表面粗糙度:Ra值测量范围0.1nm-10μm,横向分辨率0.1μm
5.耐腐蚀性能:盐雾试验周期24-1000h,温度循环范围-70℃~150℃
1.光学镀膜:包括增透膜、反射膜、滤光片等光学元件
2.半导体薄膜:PVD/CVD沉积的金属化层、介质层
3.柔性显示膜层:ITO导电膜、偏光膜、封装阻隔膜
4.硬质涂层:类金刚石(DLC)、氮化钛(TiN)等工具镀层
5.防腐涂层:船舶用环氧树脂涂层、航空铝合金阳极氧化膜
1.ASTMB487-20横截面法测定金属镀层厚度
2.ISO14703:2023扫描探针显微镜表面形貌分析
3.GB/T1771-2007色漆清漆耐中性盐雾性能测定
4.ISO20502:2016陶瓷涂层界面结合强度划痕测试法
5.ASTMF1044-05(2021)非破坏性光学膜厚测量标准
1.FilmetricsF40系列光谱椭偏仪:膜厚与光学常数同步测量
2.BrukerDektakXT台阶仪:垂直分辨率0.1的轮廓分析
3.ZEISSCrossbeam550聚焦离子束电镜:纳米级截面制备与观测
4.CSMRevetest划痕测试仪:最大载荷50N的界面结合强度评估
5.ThermoScientificARLEQUINOX3000X射线衍射仪:晶体结构分析
6.Keysight5500原子力显微镜:三维表面形貌表征
7.Q-LabQ-FOGCRH盐雾试验箱:循环腐蚀环境模拟
8.ShimadzuUV-3600iPlus分光光度计:250-2500nm透反射率测试
9.MTSNanoIndenterG200:纳米压痕模量测量系统
10.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜:120nm横向分辨率表面分析
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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