电荷耦合器件存储器检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.暗电流特性：25℃下暗电流密度≤0.5nA/cm²，高温85℃时≤5nA/cm²

2.电荷转移效率：垂直转移效率≥99.999%，水平寄存器效率≥99.99%

3.动态范围测试：线性工作区≥70dB，饱和曝光量误差≤±3%

4.光谱响应度：400-1000nm波长范围内量子效率≥80%

5.抗辐射性能：总剂量辐射≥100krad(Si)，单粒子闩锁阈值≥50MeV·cm²/mg

检测范围

1.科学级背照式CCD：用于天文观测与光谱分析的高灵敏度器件

2.工业线阵CCD：适用于高速扫描与尺寸测量的1024/2048像素阵列

3.航天级抗辐射CCD：满足卫星载荷要求的加固型图像传感器

4.微光CCD组件：带电子倍增功能的EMCCD器件

5.红外增强型CCD：扩展至1700nm近红外波段的特种器件

检测方法

1.ASTMF1241-22《固态成像器件暗电流测试规程》

2.ISO15529:2010《光学与光子学-CCD调制传递函数测量》

3.GB/T18908.1-2021《半导体器件机械和气候试验方法》

4.IEC60749-39:2021《半导体器件抗辐射试验流程》

5.GB/T26248-2010《电荷耦合器件光电参数测试方法》

检测设备

1.KeysightB1500A半导体分析仪：暗电流/电容-电压特性测试

2.ThermoScientificATS-525恒温箱：-65℃~+200℃温度循环测试

3.OAIModel300光学校准系统：MTF/PSF光学响应分析

4.Chroma19032-S光辐射源：光谱响应度标定装置

5.TektronixAWG5208任意波形发生器：驱动时序特性验证

6.HamamatsuC11347-11低温探头：77K深冷环境性能测试

7.ThermoFisherSCIEXTripleTOF6600质谱仪（改装）：单粒子效应模拟

8.Agilent4156C精密参数分析仪：电荷转移效率定量分析

9.BrukerContourGT-X3白光干涉仪：微结构三维形貌测量

10.Fluke6100A电能质量标准源：供电系统抗干扰测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质