薄层层析硅胶板检测
薄层层析硅胶板检测摘要：薄层层析硅胶板检测是评估其物理化学性能及分离效能的关键环节。本文聚焦硅胶层厚度、粒度分布、吸附性能等核心指标，结合ASTM、ISO及GB/T标准体系，系统阐述检测方法、设备选型及适用范围，为制药、化工等领域提供质量控制依据。
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
1.硅胶层厚度：采用非接触式测厚仪测量（0.15-0.30mm范围）
2.粒度分布：激光衍射法测定粒径（D50值5-25μm）
3.吸附性能：比表面积测试（≥400m²/g）与孔容分析（0.6-1.2mL/g）
4.pH值测定：去离子水浸提法（6.0-7.5区间）
5.含水量：卡尔费休法（≤5%）与热重分析法（105℃恒重）
检测范围
1.G型普通薄层层析硅胶板（玻璃基材）
2.H型高效薄层层析硅胶板（粒径≤10μm）
3.GF254荧光指示型硅胶板（含硫酸钙粘合剂）
4.铝箔基材预制薄层板（厚度0.1-0.2mm）
5.改性硅胶板（C18键合相/氨基改性）
检测方法
ASTMD3849-14a《层析材料性能测试标准》
ISO787-5:2020《颜料和体质颜料试验方法—pH值测定》
GB/T9722-2006《化学试剂气相色谱法通则》
GB/T6283-2008《化工产品中水分含量的测定》
ISO9277:2022《气体吸附法测定比表面积》
检测设备
1.马尔文Mastersizer3000激光粒度仪（0.01-3500μm测量范围）
2.MicromeriticsASAP2460比表面分析仪（孔径0.35-500nm）
3.梅特勒ToledoXS205DU分析天平（0.01mg精度）
4.Elcometer456涂层测厚仪（分辨率0.1μm）
5.Metrohm917Coulometer卡尔费休水分仪（1ppm检出限）
6.ThermoScientificMultiskanSkyHigh酶标仪（荧光强度检测）
7.ShimadzuUV-2600i紫外可见分光光度计（190-1400nm波长）
8.NetzschTG209F3热重分析仪（±0.1μg称量精度）
9.SartoriusPB-10pH计（±0.01精度）
10.CAMAGTLCScanner4薄层色谱扫描仪（200-900nm波长范围）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析薄层层析硅胶板检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
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