单极质谱计检测
单极质谱计检测摘要：单极质谱计检测是一种基于离子质量-电荷比分析的精密技术，广泛应用于材料成分鉴定与痕量物质分析。其核心检测要点包括质量分辨率、灵敏度、真空系统稳定性及校准准确性。本文重点阐述检测项目参数、适用材料范围、标准化方法及关键设备配置，为工业研发与质量控制提供技术参考。
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
质量范围：1-1000 amu（原子质量单位），误差≤±0.05%
分辨率：全质量范围内≥0.1 amu（半峰宽法）
灵敏度：低浓度样品检出限≤1 ppb（信噪比≥3:1）
真空度：分析室压力≤5×10⁻⁷ Torr
稳定性：连续8小时质量轴漂移＜0.01 amu
检测范围
半导体材料：硅晶圆掺杂浓度、金属杂质分析
高分子聚合物：单体残留量、添加剂成分检测
生物医药样品：蛋白质分子量测定、代谢物鉴定
环境污染物：VOCs（挥发性有机物）定性定量分析
金属及合金材料：痕量元素分布表征
检测方法
ASTM E1504：质谱系统动态质量扫描校准规程
ISO 18118：表面化学分析-质谱法元素灵敏度因子测定
GB/T 32293：四极杆质谱仪性能测试方法
ISO 21358：真空系统漏率检测的质谱示踪法
GB/T 38216：质谱联用技术通则
检测设备
Thermo Fisher Scientific Exactive Plus EMR：高分辨率（240,000 FWHM）轨道阱质谱，配备电喷雾离子源
Agilent 7200 GC/Q-TOF：气相色谱-四极杆飞行时间质谱联用系统，质量精度＜1 ppm
Shimadzu LCMS-8060：超高效液相色谱三重四极杆质谱，支持MRM多反应监测模式
Pfeiffer Vacuum HiPace 80：涡轮分子泵组，极限真空度达5×10⁻⁸ mbar
Hiden Analytical HPR-40：残余气体分析仪，质量数范围1-300 amu，检测限0.1 ppm
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析单极质谱计检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
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