片状氧化铝检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

化学成分分析：Al₂O₃含量（≥99.5%）、杂质元素（Fe₂O₃≤0.02%、SiO₂≤0.03%、Na₂O≤0.05%）

物理性能测试：粒度分布（D50: 10-50μm）、比表面积（2-10m²/g）、振实密度（0.8-1.5g/cm³）

晶体结构分析：α-Al₂O₃相含量（≥95%）、晶粒尺寸（0.1-2μm）

形貌特征分析：片径厚度比（10:1-50:1）、表面平整度（SEM观察无裂纹）

热稳定性测试：热失重（≤0.5%@1000℃）、线膨胀系数（8.0×10⁻⁶/K）

检测范围

高纯片状氧化铝（电子陶瓷、蓝宝石衬底）

工业级片状氧化铝（耐火材料、研磨介质）

纳米片状氧化铝（催化剂载体、复合材料）

改性片状氧化铝（表面包覆、掺杂处理）

复合材料中的片状氧化铝（聚合物基、金属基）

检测方法

ASTM E1479：电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）测定杂质元素

ISO 13320：激光衍射法分析粒度分布

GB/T 6609：X射线荧光光谱法（XRF）测定Al₂O₃主含量

GB/T 13390：BET氮气吸附法测定比表面积

ISO 20203：X射线衍射法（XRD）定量α-Al₂O₃相含量

检测设备

X射线荧光光谱仪（XRF）：Thermo Scientific ARL PERFORM'X，精度±0.01%

扫描电子显微镜（SEM）：JEOL JSM-IT800，分辨率1nm，用于形貌观察

激光粒度分析仪：Malvern Mastersizer 3000，量程0.01-3500μm

比表面积分析仪：Micromeritics ASAP 2460，测试范围0.0005-10000m²/g

X射线衍射仪（XRD）：Bruker D8 ADVANCE，角度精度±0.0001°

同步热分析仪（TGA-DSC）：NETZSCH STA 449 F5 Jupiter，温度范围RT-1600℃

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质