嵌铸物检测摘要:嵌铸物检测是确保复合材料结构完整性与功能性的关键环节,主要针对金属/非金属基体中的嵌入体进行系统化分析。核心检测项目涵盖气孔率、界面结合强度、热应力分布等关键参数,需依据ASTM、ISO及GB系列标准实施。检测对象涉及电子封装模块、精密机械部件等工业领域,通过X射线断层扫描、超声波探伤等先进技术手段实现无损检测。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
气孔缺陷检测
孔隙直径:0.05-2.0mm(工业CT分辨率0.02mm)
孔隙密度:按GB/T 33610-2017要求≤5个/cm³
界面结合强度测试
剪切强度:≥25MPa(ASTM D3165标准)
剥离强度:≥15N/mm(ISO 11339:2010)
热膨胀系数匹配性
Δα≤3×10⁻⁶/K(-50℃~200℃温区)
热循环次数:1000次无开裂(GB/T 2423.22)
导电连续性检测
接触电阻:≤10mΩ(IEC 60512-2标准)
电流承载:100A持续1小时无温升异常
机械振动可靠性
频率范围:10-2000Hz(GB/T 2423.10)
加速度:15g持续120分钟
材料类别 | 典型产品 | 检测重点 |
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金属基复合材料 | 铝合金嵌铜散热器、锌合金包覆轴承 | 界面扩散层厚度、热应力分布 |
工程塑料组件 | PEEK嵌金属连接件、PTFE密封环 | 冷热交变形变量、介质渗透率 |
陶瓷封装器件 | 氧化铝电路基板、氮化硅传感器 | 微裂纹扩展、残余应力场 |
玻璃金属封接件 | 真空管电极、光伏汇流盒 | 膨胀系数梯度、气密性验证 |
电子封装材料 | 芯片塑封体、LED支架 | 离子迁移率、湿气敏感等级 |
X射线断层扫描(ASTM E1441)
采用锥束CT技术实现三维重构,分辨率达2μm,可识别微米级孔隙及界面分层
超声波C扫描(GB/T 12604.1)
使用10-25MHz聚焦探头,检测深度分辨率0.1mm,绘制界面结合状态云图
热机械分析(ISO 11359-2)
-40℃~300℃温控精度±0.5℃,测量嵌铸体系热膨胀曲线匹配性
金相切片分析(GB/T 13298)
采用环氧树脂真空包埋,0.05μm金刚石抛光,观察界面扩散层微观结构
四点弯曲测试(ASTM C1674)
跨距50mm,加载速率0.5mm/min,测定界面断裂韧性KIC值
YXLON FF35 CT系统
最大检测尺寸:Φ400×500mm
分辨率:2μm@放大倍率200X
应用:三维缺陷重建分析
Olympus EPOCH 650超声探伤仪
频率范围:0.5-30MHz
A扫描采样率:200MHz
应用:界面分层定量检测
Netzsch DIL 402C热膨胀仪
温度范围:-160℃~2000℃
位移分辨率:0.125nm
应用:热膨胀系数测定
Instron 5985万能试验机
载荷容量:50kN
位移精度:±0.5μm
应用:界面剪切强度测试
Zeiss Axio Imager M2m金相显微镜
光学放大:50X-1000X
配置EDS能谱附件
应用:微观组织分析
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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