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嵌铸物检测

2025-02-22 关键词:嵌铸物项目报价,嵌铸物测试方法,嵌铸物测试标准 相关:
嵌铸物检测

嵌铸物检测摘要:嵌铸物检测是确保复合材料结构完整性与功能性的关键环节,主要针对金属/非金属基体中的嵌入体进行系统化分析。核心检测项目涵盖气孔率、界面结合强度、热应力分布等关键参数,需依据ASTM、ISO及GB系列标准实施。检测对象涉及电子封装模块、精密机械部件等工业领域,通过X射线断层扫描、超声波探伤等先进技术手段实现无损检测。

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

气孔缺陷检测

孔隙直径:0.05-2.0mm(工业CT分辨率0.02mm)

孔隙密度:按GB/T 33610-2017要求≤5个/cm³

界面结合强度测试

剪切强度:≥25MPa(ASTM D3165标准)

剥离强度:≥15N/mm(ISO 11339:2010)

热膨胀系数匹配性

Δα≤3×10⁻⁶/K(-50℃~200℃温区)

热循环次数:1000次无开裂(GB/T 2423.22)

导电连续性检测

接触电阻:≤10mΩ(IEC 60512-2标准)

电流承载:100A持续1小时无温升异常

机械振动可靠性

频率范围:10-2000Hz(GB/T 2423.10)

加速度:15g持续120分钟

检测范围

材料类别典型产品检测重点
金属基复合材料铝合金嵌铜散热器、锌合金包覆轴承界面扩散层厚度、热应力分布
工程塑料组件PEEK嵌金属连接件、PTFE密封环冷热交变形变量、介质渗透率
陶瓷封装器件氧化铝电路基板、氮化硅传感器微裂纹扩展、残余应力场
玻璃金属封接件真空管电极、光伏汇流盒膨胀系数梯度、气密性验证
电子封装材料芯片塑封体、LED支架离子迁移率、湿气敏感等级

检测方法

X射线断层扫描(ASTM E1441)

采用锥束CT技术实现三维重构,分辨率达2μm,可识别微米级孔隙及界面分层

超声波C扫描(GB/T 12604.1)

使用10-25MHz聚焦探头,检测深度分辨率0.1mm,绘制界面结合状态云图

热机械分析(ISO 11359-2)

-40℃~300℃温控精度±0.5℃,测量嵌铸体系热膨胀曲线匹配性

金相切片分析(GB/T 13298)

采用环氧树脂真空包埋,0.05μm金刚石抛光,观察界面扩散层微观结构

四点弯曲测试(ASTM C1674)

跨距50mm,加载速率0.5mm/min,测定界面断裂韧性KIC值

检测设备

YXLON FF35 CT系统

最大检测尺寸:Φ400×500mm

分辨率:2μm@放大倍率200X

应用:三维缺陷重建分析

Olympus EPOCH 650超声探伤仪

频率范围:0.5-30MHz

A扫描采样率:200MHz

应用:界面分层定量检测

Netzsch DIL 402C热膨胀仪

温度范围:-160℃~2000℃

位移分辨率:0.125nm

应用:热膨胀系数测定

Instron 5985万能试验机

载荷容量:50kN

位移精度:±0.5μm

应用:界面剪切强度测试

Zeiss Axio Imager M2m金相显微镜

光学放大:50X-1000X

配置EDS能谱附件

应用:微观组织分析

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

中析仪器 资质

中析嵌铸物检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师

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