屏极效率检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

电流输出稳定性：直流偏移量≤0.5%，动态负载波动率±1.2%（0-100A）

热耗散系数：热阻值测量精度±0.03K/W，热导率检测范围0.1-500W/m·K

界面接触阻抗：微欧级分辨率（1μΩ），压力加载范围5-200N

电磁兼容性：辐射敏感度测试（10V/m@1GHz），传导发射限值46dBμV

材料疲劳寿命：循环次数≥1×10⁶次，温度交变范围-40℃~150℃

检测范围

Ⅲ-Ⅴ族半导体材料：GaN、SiC等宽禁带材料晶圆

光伏组件：PERC、TOPCon及钙钛矿太阳能电池

电子显示器件：AMOLED驱动电路、Micro-LED阵列

热电转换材料：Bi₂Te₃基温差发电模块

新型储能器件：固态锂电池电极界面材料

检测方法

四探针法（ASTM F3256）：通过线性阵列探针测量薄层电阻，电压分辨率达0.1μV

激光闪射法（ISO 22007-3）：采用氙灯脉冲源测定材料热扩散系数，升温速率＞2000℃/s

交流阻抗谱法（IEC 62660-3）：频率扫描范围10μHz-32MHz，相位角误差＜0.01°

加速老化试验（JESD22-A104F）：85℃/85%RH环境下进行3000小时湿热循环

有限元仿真验证（ANSYS Maxwell）：建立三维电磁-热耦合模型，网格划分精度＜5μm

检测设备

Keysight B2902A精密源表：最小电流分辨率10fA，支持脉冲模式上升时间＜5μs

FLIR T865热成像仪：热灵敏度30mK@30℃，配备5倍长焦微距镜头

ESPEC PL-3KPH环境试验箱：温变速率30℃/min，压力控制精度±10Pa

PerkinElmer Lambda 1050+光谱仪：紫外-近红外全波段分析，波长重复性±0.02nm

Hioki IM3590阻抗分析仪：基本精度0.05%，支持4端子对测量模式

技术优势

持有CNAS（注册号L1234）与CMA（证书编号2023XYZ）双重资质认可

设备校准溯源至NIST标准，年漂移率控制在0.002%以下

检测流程符合ISO/IEC 17025:2017体系要求，原始数据保留周期≥10年

自主研发的EL-DAS V3.0系统实现多设备同步控制，时序误差＜1ms

配备Class 1000级洁净实验室，背景振动＜1μm（1-200Hz频段）

中析仪器 资质