谱级检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

X射线衍射分析（XRD）：Cu Kα射线（λ=1.5406Å），2θ扫描范围5-80°，步长0.02°，扫描速度2°/min

拉曼光谱分析：532nm激光源，分辨率≤0.5cm⁻¹，检测范围50-4000cm⁻¹，积分时间10-60s

红外光谱分析（FTIR）：DTGS检测器，光谱范围4000-400cm⁻¹，分辨率4cm⁻¹，扫描次数32次

电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）：轴向观测模式，检测限0.01-10ppm，RF功率1350W，雾化气流量0.65L/min

X射线光电子能谱（XPS）：Al Kα单色源（1486.6eV），分析深度2-5nm，能量分辨率≤0.45eV

检测范围

金属材料：铝合金晶相分析，钛合金表面氧化层厚度检测

高分子材料：PE/PP共混物结晶度测定，橡胶硫化程度表征

无机非金属材料：陶瓷晶界成分分析，玻璃表面应力检测

半导体材料：硅片掺杂浓度测量，GaN薄膜缺陷分析

生物医用材料：羟基磷灰石结晶度检测，医用聚合物官能团鉴定

检测方法

ASTM E975-13 金属材料X射线衍射残余应力测定标准

ISO 14706:2014 表面化学分析-全反射X射线荧光光谱法

GB/T 21186-2007 傅里叶变换红外光谱分析方法通则

ASTM E1479-16 电感耦合等离子体原子发射光谱标准指南

ISO 15472:2010 X射线光电子能谱仪能量标定规范

检测设备

XRD系统：Rigaku SmartLab 9kW，配备HybridPixel阵列探测器，可实现薄膜GI-XRD测量

显微拉曼光谱仪：Horiba LabRAM HR Evolution，空间分辨率0.5μm，支持532/633/785nm多波长切换

傅里叶红外光谱仪：Thermo Scientific Nicolet iS50，集成ATR、透射、反射多模式检测

ICP-OES系统：PerkinElmer Avio 550，双向观测技术实现ppb级痕量元素检测

XPS分析系统：Kratos AXIS Supra，配备磁透镜系统与延迟线检测器，最小分析区域15μm

技术优势

CNAS（CNAS L6543）及CMA（2019183456H）双认证实验室，符合ISO/IEC 17025体系要求

配备恒温恒湿洁净实验室（温度23±0.5℃，湿度45±5%RH）

建立标准物质数据库，涵盖NIST SRM 674b等248种标样

检测人员持有ASNT/ISO 9712三级认证资质

测量不确定度评估系统通过JJF 1059.1-2012认证

中析仪器 资质