衍射测试

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.物相定性与定量分析：物相鉴定、多相混合物中各相含量测定、无标样定量分析、结晶度计算。

2.晶体结构解析：晶胞参数精确测定、空间群确定、原子占位分析、晶体结构精修。

3.残余应力分析：表面与亚表面残余应力测定、应力梯度分析、宏观应力与微观应力评估。

4.织构与取向分析：极图测定、反极图分析、取向分布函数计算、织构强度定量。

5.薄膜与涂层分析：薄膜厚度测定、多层膜结构分析、界面反应物相检测、应力状态评估。

6.微区结构分析：微区物相鉴定、晶粒尺寸与微应变计算、选区电子衍射标定辅助。

7.高温与原位分析：高温相变过程监测、原位反应过程追踪、变温晶体结构变化研究。

8.小角X射线散射分析：纳米尺度结构分析、孔隙尺寸与分布测定、高分子材料长周期分析。

9.掠入射X射线衍射分析：表面与界面薄层结构分析、超薄膜物相鉴定、深度分辨物相探测。

10.非晶态结构分析：径向分布函数分析、短程有序结构表征、非晶合金结构研究。

11.晶体缺陷分析：位错密度评估、层错概率计算、晶体完整性表征。

12.相变动力学研究：相变温度点测定、相变过程动力学参数计算、等温相变曲线绘制。

13.晶体粒度分析：晶粒尺寸统计、粒度分布计算、纳米晶尺寸精确测定。

14.晶体质量评估：单晶质量鉴定、镶嵌结构分析、晶体摇摆曲线测定。

15.材料状态鉴别：同素异形体鉴别、热处理工艺效果评估、材料老化与降解物相分析。

检测范围

各类金属及合金材料、无机非金属陶瓷材料、半导体单晶与多晶材料、水泥与混凝土矿物相、天然与人造矿物、催化材料、电池正负极材料、高分子聚合物与复合材料、药物多晶型、功能性薄膜与涂层、地质岩石与土壤样品、考古陶瓷与金属文物、工业催化剂、磁性材料、玻璃与非晶合金、腐蚀产物、焊接接头区域、经过不同热处理的材料、纳米粉末、涂层刀具

检测设备

1.多晶X射线衍射仪：用于粉末或块状多晶样品的物相分析、晶体结构测定及残余应力测量；配备常规铜靶X射线管，可进行步进扫描或连续扫描。

2.高分辨率X射线衍射仪：用于半导体外延膜、单晶材料的高精度结构表征；具备多重晶单色器与分析器，可获得极高角分辨率的衍射曲线。

3.微区X射线衍射仪：用于微小区域或特定位置的物相与结构分析；配备高精度毛细管聚焦光学系统或微区测角仪，可实现数十微米尺度分析。

4.薄膜X射线衍射仪：专用于薄膜、涂层及表面层的结构分析；采用掠入射几何，可有效增强薄膜信号并抑制基底干扰。

5.高温原位X射线衍射仪：用于材料在高温环境下的相变与结构演化实时研究；配备高温炉或热台，可在惰性或反应气氛中工作。

6.应力分析专用衍射仪：专用于构件表面残余应力的精确测量；具备大型样品台及侧倾仪，可执行多种应力测量方法。

7.小角X射线散射仪：用于纳米至亚微米尺度结构信息的获取；采用长光路准直系统，可分析胶体、高分子、多孔材料等的结构。

8.二维面探X射线衍射仪：用于快速物相鉴定、织构分析及动态过程研究；采用大面积二维探测器，可大幅缩短数据采集时间。

9.多功能X射线衍射系统：集成多种附件与模式的大型分析平台；可兼容粉末、薄膜、微区、高温、低温等多种测试需求，功能全面。

10.同步辐射X射线衍射光源：基于同步辐射加速器的高亮度X射线源；具有高强度、高准直性、波长连续可调等优势，用于前沿材料科学的高端结构解析。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质