
老化测试摘要:电子元器件老化测试是评估其长期可靠性与耐久性的关键环节,通过模拟时间、环境及工作应力等因素的加速作用,提前暴露潜在缺陷与性能衰减规律。该测试专注于验证元器件的设计寿命、材料稳定性及失效模式,为产品选型、质量控制和可靠性设计提供至关重要的数据支持。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1.高温工作寿命测试:在规定高温下施加额定电负荷,持续运行以评估其电性能稳定性与失效时间。
2.高温贮存测试:将样品置于高温环境中贮存,不施加电应力,考核材料与结构的长期耐热老化能力。
3.温度循环测试:在设定的高低温极值间进行反复转换,评估因热膨胀系数不匹配导致的机械应力损伤。
4.热冲击测试:极快速地在高温与低温介质间转换,考核元器件承受剧烈温度变化的能力。
5.湿热测试:在高温度、高湿度环境下进行,评估吸湿、凝露对绝缘性能、金属腐蚀及材料劣化的影响。
6.高加速寿命与应力筛选测试:施加远高于正常水平的综合应力(温湿度、电压),快速激发并剔除早期失效品。
7.功率温度循环测试:同步施加循环变化的电功率与环境温度,模拟实际工况下的热机械疲劳。
8.低温工作寿命测试:在低温条件下施加电负荷运行,评估其低温启动、工作特性及材料脆化风险。
9.稳态湿热加电测试:在恒定湿热条件下长期施加电压,重点考核电化学迁移与绝缘退化现象。
10.光老化测试:对于光敏感元器件,考察其在特定波长光照下性能参数随时间的变化。
11.振动疲劳老化测试:在长期或循环振动应力下工作,评估其机械结构完整性及连接可靠性。
12.盐雾腐蚀老化测试:模拟含盐分的大气环境,考核端子、引线等金属部分的耐腐蚀性能。
集成电路、分立半导体器件、电阻器、电容器、电感器、连接器、继电器、晶体振荡器、传感器、光电耦合器、微波元件、保险丝、开关、滤波器、变压器、磁性元件、电声器件、电路保护元件、混合集成电路、微机电系统器件
1.高温老化试验箱:提供长期稳定的高温测试环境,并具备多路独立供电与监控系统,用于高温工作与贮存寿命测试。
2.高低温交变试验箱:可程序化控制温度变化速率与驻留时间,用于执行精确的温度循环与热冲击测试。
3.恒温恒湿试验箱:精确控制腔内的温度与相对湿度,用于开展各类湿热老化、稳态湿热等测试项目。
4.高加速应力试验系统:集成高温、高湿、高电压应力,通过多应力协同作用实现产品的快速寿命评估与缺陷筛选。
5.冷热冲击试验箱:具备两箱或三箱结构,可实现样品在高温区与低温区之间的快速转移,用于严酷的热冲击测试。
6.精密参数测试仪:在老化测试前后及过程中,对元器件的关键电性能参数进行高精度测量与记录。
7.振动试验系统:包含振动台与控制单元,可模拟不同频率与幅度的振动条件,用于振动疲劳老化评估。
8.盐雾腐蚀试验箱:通过喷射雾化盐溶液创造腐蚀环境,用于考核元器件金属部分的耐盐雾腐蚀能力。
9.光照老化试验箱:提供特定光谱与辐照度的光源,用于研究光敏感元器件在光照条件下的性能衰减。
10.在线监测与数据采集系统:实时监测老化过程中样品的电压、电流、温度等参数,并自动记录失效时间与模式。
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。










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