纳米材料平整度试验

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.表面粗糙度：算术平均粗糙度、轮廓最大高度、轮廓单元平均宽度、轮廓支承长度率。

2.平面度偏差：整体平面度、局部平面度、平面度误差、平面度分布。

3.微观形貌特征：纳米颗粒分布、纳米结构排列、表面台阶、晶界特征。

4.波纹度参数：波纹度高度、波纹度间距、波纹度方向、波纹度密度。

5.三维形貌参数：表面均方根粗糙度、表面偏斜度、表面陡度、表面纹理特征。

6.纳米尺度形貌：原子级平整度、纳米台阶高度、纳米起伏、分子层平整度。

7.大面积均匀性：宏观平整度、区域差异、均匀性指数、平整度一致性。

8.薄膜平整度：薄膜厚度均匀性、薄膜表面平整度、界面平整度、层间平整度。

9.加工影响评估：加工工艺对平整度影响、抛光平整度、沉积平整度、刻蚀平整度。

10.功能性评估：平整度对光电性能影响、平整度对摩擦性能影响、平整度对吸附性能影响。

检测范围

纳米薄膜、纳米涂层、纳米粉体、纳米线、纳米管、纳米片、纳米颗粒、纳米复合材料、纳米陶瓷、纳米金属、纳米氧化物、纳米半导体、碳纳米材料、石墨烯材料、纳米电子材料、纳米光电材料、纳米传感器材料、纳米生物材料、纳米能源材料、纳米催化材料。

检测设备

1.原子力显微镜：用于纳米尺度表面形貌的高分辨率测量，分辨率可达原子级。

2.扫描隧道显微镜：用于导电纳米材料表面形貌的原子级测量。

3.白光干涉仪：用于大面积表面平整度的快速测量。

4.激光干涉仪：用于高精度平面度测量。

5.台阶仪：用于薄膜厚度和台阶高度测量。

6.光学轮廓仪：用于表面形貌的非接触式测量。

7.扫描电子显微镜：用于表面形貌的微观观察。

8.透射电子显微镜：用于纳米材料断面形貌观察。

9.X射线反射仪：用于薄膜平整度和界面粗糙度测量。

10.表面粗糙度仪：用于常规表面粗糙度参数测量。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质