光电连接件检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

　　北京中科光析科学技术研究所，可依据相应检测标准进行耐久性、老化试验、耐冰冻测试、跌落测试等各种光电连接件检测服务，亦可根据客户需求设计方案，为客户提供非标检测服务。检测周期：常规7-15个工作日出具光电连接件检测报告

　　检测费用：样品初检后结合客户检测需求以及实验复杂程度进行报价

　　样品量大小：具体样品量需要根据客户的检测项目来决定，详情您可以咨询工程师

检测项目

　　外观质量、温度稳定性、温度瞬变试验、盐雾试验、耐液体性能、耐臭氧老化、振动试验、耐久性、老化试验、耐冰冻测试、跌落试验、软焊性等。

光电连接件检测标准列举

　　DIN EN 2591-217-2003 航空和航天 光电连接件 试验方法 第217部分:终端插件指定电流下的压降

　　DIN EN 2591-218-2003 航空和航天 光电连接件 试验方法 第218部分:通过温度和电流周期的终端插件的老化试验

　　DIN EN 2591-219-2003 航空和航天 光电连接件 试验方法 第219部分:终端绝缘插件的电压强度

　　DIN EN 2591-325-2003 航空和航天 光电连接件 试验方法 第325部分:耐冰冻

　　DIN EN 2591-421-2003 航空和航天 光电连接件 试验方法 第421部分:自由坠落

　　DIN EN 2591-422-2003 航空和航天 光电连接件 试验方法 第422部分:锁紧导线孔强度

　　DIN EN 2591-428-2003 航空和航天 光电连接件 试验方法 第428部分:终端卷制插件的电流正弦形波动

　　DIN EN 2591-501-2003 航空和航天 光电连接件 试验方法 第501部分:软焊性

　　DIN EN 2591-507-2003 航空和航天 光电连接件 试验方法 第507部分:防护层孔隙率

　　DIN EN 2591-508-2003 航空和航天 光电连接件 试验方法 第508部分:接触部分涂层厚度的测量

　　DIN EN 2591-512-2003 航空和航天 光电连接件. 试验方法 第512部分:密封连接盖的非移动固定有效性

　　DIN EN 2591-513-2003 航空和航天 光电连接件 试验方法 第513部分:渗磁率测定

　　DIN EN 2591-514-2003 航空和航天 光电连接件 试验方法 第514部分:自熔焊触点的可焊性

　　DIN EN 2591-605-2002 航空和航天 光电连接件试验方法 第605部分:光学元件 回程损失

　　DIN EN 2591-606-2002 航空和航天 光电连接件试验方法 第606部分:光学元件 串音

　　DIN EN 2591-607-2002 航空和航天 光电连接件试验方法 第607部分:光学元件 抗杂光耦合

　　DIN EN 2591-613-2002 航空和航天 光电连接件试验方法 第613部分:光电元件 冲击试验

　　DIN EN 2591-614-2002 航空和航天 光电连接件试验方法 第614部分:光学元件 接插件径向压载

　　DIN EN 2591-617-2002 航空和航天 光电连接件试验方法 第617部分 光学元件 温度周期

　　DIN EN 2591-6305-2003航空和航天 光电连接件 试验方法 第6305部分:光学元件 温度瞬变

检测准备

　　1、与客户进行积极有效的沟通，了解客户样品的检测需求，确定客户所需服务的基本信息，并及时沟通;

　　2、根据材料样品，数量及检测的项目需求，邮寄样品到我所;

　　3、结合样品的数量、周期等信息，出详细的服务报价单。

检测实施

　　1、内容：根据样品及客户的检测需求设计方案进行检测;

　　2、成果：样品检测完成后对数据进行审核

　　3、整理数据，给客户邮寄纸质报告/发送电子报告。

　　以上是关于光电连接件检测相关介绍,周期、方法、步骤以工程师为准，如样品特殊可与工程师交流沟通样品特性，为您设计合理的检测分析方案，节约您的时间。

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