电子元器件结构陶瓷检测摘要:电子元器件结构陶瓷检测,北京中科光析科学技术研究所,可为您出具弹性模量、气密性、耐磨性、耐蚀性、抗氧化性、介电损耗、机械强度等各种电子元器件结构陶瓷检测报告
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测服务:电子元器件结构陶瓷检测
检测周期:7-15个工作日出具测试报告。
检测费用:样品初检后结合客户检测需求以及实验复杂程度进行报价。
北京中科光析科学技术研究所,可为您出具各种电子元器件结构陶瓷检测报告。我所是正规的科研测试机构,始终以科学研究为首任,以客户为中心,在严格的程序下开展检测工作,为客户提供产品检测及质量控制的解决方案, 竭诚为广大客户提供科学的检验检测、研发分析服务。
导热系数、抗热震性、线膨胀系数、硬度、化学稳定性、电阻率、弹性模量、气密性、耐磨性、耐蚀性、抗氧化性、介电损耗、机械强度等。
GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料
GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法
GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法
GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
1.用作销售报告:出具正规第三方检测报告让客户更加信赖自己的产品质量,让自己的产品更具有说服力;
2.研发使用:拥有优秀的检测工程师和先进的测试设备,可降低了研发成本,节约时间;
3.司法服务:协助相关部门检测产品,进行科研实验,为相关部门提供科学、公正、准确的检测数据;
4.大学论文:科研数据使用;
5.投标:检测周期短,同时所花费的费用较低,准确性较高;
6.工业问题诊断:较短时间内检测出产品问题点,以达到尽快止损的目的。
1.严谨、公正单位,主要以研发、分析、检测为主。经验丰富,服务面广。
2.检测周期短、费用低、数据科学准确,出具的检测报告支持扫码查询真伪。
3.支持全国上门取样,寄样检测服务。
4.初检小样,初检期间不收取任何费用(视具体样品而定,具体需咨询工程师)。
5.全国设有多家分支实验室。
6.拥有先进的检测仪器,正规的检测团队。
7.提供完善的售后服务。
8.签订保密协议,注重保护客户隐私。
1、寄样
2、初检
3、报价
4、双方确定,签订保密协议,开始实验
5、完成实验:审核数据-出具报告
6、出具检测报告,后期服务。
以上是关于电子元器件结构陶瓷检测相关介绍,周期、方法、步骤以工程师为准,如样品特殊可与工程师交流沟通样品特性,为您设计合理的检测分析方案,节约您的时间。
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