厚度均匀性测试

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 基础厚度参数：平均厚度，厚度最大值与最小值，厚度分布范围。

2. 均匀性统计指标：厚度标准偏差，厚度变异系数，厚度极差。

3. 面内均匀性分析：横向厚度分布，纵向厚度分布，二维厚度等高线图分析。

4. 边缘与中心对比：样品中心区域平均厚度，样品边缘区域平均厚度，边缘效应评估。

5. 批次间均匀性：同批次不同样品间厚度一致性，不同生产批次间厚度稳定性。

6. 膜层结构分析：单层膜厚度均匀性，多层膜中各分层厚度均匀性，层间厚度比例。

7. 功能性关联测试：基于厚度分布的光学性能模拟，电学性能均匀性关联分析。

8. 工艺缺陷诊断：局部过厚区域识别，局部过薄或缺失区域识别，条纹状厚度不均分析。

9. 基材影响评估：涂层厚度与基材表面粗糙度的关联性，柔性基材弯曲对测得厚度均匀性的影响。

10. 长期稳定性监控：老化前后厚度均匀性变化，环境试验后厚度分布稳定性。

检测范围

光学增透膜、反射膜、导电氧化铟锡薄膜、半导体晶圆镀膜、光伏电池减反膜、柔性显示屏封装层、保护性油漆涂层、防腐电泳涂层、磁性存储薄膜、医用药物涂层、食品接触性涂层、胶粘剂涂布层、离型膜涂层、防水透气薄膜、纳米级超薄涂层、石墨烯薄膜、聚合物分离膜、装饰性真空镀膜、硬质耐磨涂层、导热界面材料

检测设备

1. 光谱椭偏仪：用于无损测量透明与半透明薄膜的厚度与光学常数；通过分析偏振光反射后的变化，能精确测定纳米至微米级薄膜的厚度分布。

2. 台阶仪：通过探针扫描台阶处的高度差来测量膜厚；适用于测量局部厚度和创建薄膜表面的轮廓形貌。

3. 白光干涉仪：利用白光干涉原理测量表面形貌和薄膜厚度；具有非接触、高垂直分辨率的特点，可用于大面积快速扫描。

4. 激光共聚焦显微镜：通过逐层扫描并利用共聚焦原理获取高分辨率三维表面形貌；适用于测量复杂表面和透明多层膜的厚度。

5. X射线荧光测厚仪：通过测量薄膜元素特征X射线的强度来确定镀层厚度；适用于金属镀层及多层膜的无损快速测量。

6. 超声测厚仪：利用超声波在材料中的脉冲反射时间来测量厚度；特别适用于单侧接触测量基材上涂层的厚度。

7. 电容式测厚仪：通过测量探头与导电基材间因涂层隔开形成的电容值变化来换算厚度；常用于非金属涂层的在线测量。

8. 涡流测厚仪：利用探头交变磁场在导电基材中产生涡流，通过感应阻抗变化测量非导电涂层的厚度。

8. 显微镜切割断面法设备：通过制备样品断面并在光学或电子显微镜下观测来直接测量厚度；可作为校准其他无损方法的基准。

10. 自动多点扫描测量系统：集成高精度位移台与上述单一测厚传感器；可对样品表面进行程序化多点自动测量，高效获取厚度分布图。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质