导电率测试

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1. 基础导电性能测试：体积电导率测定，表面电阻率测定，薄层电阻测定。

2. 连接可靠性测试：焊点导电性评估，接线端子接触电阻测试，压接连接电阻测量。

3. 材料特性分析：金属材料电导率分析，合金成分对导电性影响评估，杂质含量电学表征。

4. 镀层与涂层测试：金属镀层导电性能测试，导电涂层方阻测量，抗氧化涂层对接触电阻影响评估。

5. 环境与可靠性测试：高温下电导率变化测试，湿热环境后导电性能评估，盐雾腐蚀后接触电阻测量。

6. 微观结构关联测试：晶粒度与电导率相关性分析，热处理工艺对导电性影响评估。

7. 半导体材料测试：硅片电阻率均匀性测试，晶圆掺杂浓度电学验证。

8. 封装与互连测试：引线框架导电性测试，封装内部互连电阻评估。

9. 功率器件测试：大电流承载导体电阻测试，散热基板绝缘层导电泄漏测试。

10. 复合材料测试：导电高分子材料电导率测试，金属基复合材料各向异性导电性能评估。

检测范围

铜材、铝材、银浆、金丝、锡膏、焊锡条、镀金触点、镀银导线、导电硅胶、金属箔片、印制电路板覆铜层、电子元器件引脚、合金线材、烧结金属触点、复合导电薄膜、金属化陶瓷基板、导电胶黏剂、电磁屏蔽材料、热电偶材料、触点弹簧片

检测设备

1. 精密电导率测试仪：用于直接测量块体金属及合金材料的体积电导率；采用四端法测量以消除接触电阻影响。

2. 四探针电阻率测试仪：主要用于测量半导体材料、薄层或薄膜的电阻率；可进行面电阻与体电阻的精确计算。

3. 涡流导电仪：用于对有色金属板材、管材、棒材进行快速、无损的电导率分选与测量；尤其适用于生产线在线检测。

4. 低电阻微欧计：用于测量连接器、开关、继电器触点等部位的接触电阻和导通电阻；具备高分辨率和低测试电流。

5. 霍尔效应测试系统：用于综合分析半导体及磁性材料的电阻率、载流子浓度、迁移率等多项电学参数。

6. 扫描电子显微镜搭配能谱仪：用于观察导电通路微观形貌并结合成分分析，研究导电性能与微观结构的关系。

7. 高温电导率测试装置：用于研究材料在高温环境下的电导率变化行为，评估其高温应用稳定性。

8. 阻抗分析仪：用于在较宽频率范围内测量材料或器件的阻抗特性，分析其交流导电行为。

9. 探针台与参数分析仪：用于对集成电路芯片、微型器件上的特定节点进行微区接触式电阻测量。

10. X射线荧光光谱仪：用于快速无损分析导体材料的元素组成，辅助判断成分对导电率的潜在影响。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质