电子元器件封装材料电性能试验

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

绝缘性能检测：

• 绝缘电阻测量：测试电阻值（≥10^12Ω，参照IEC60167）
• 击穿电压试验：交流击穿强度（kV/mm，测试速率2kV/s）
• 表面电阻率测试：电阻值（测试电压100V-1000V）

• 介电常数测量：相对介电常数（εr，频率范围1kHz-1MHz）
• 介质损耗角正切：tanδ值（≤0.05，参照ASTMD150）
• 电容稳定性：容量变化率（±5%温度循环试验）

• 体积电阻率测量：电阻值（测试电流1μA-10mA）
• 电导率测试：导电系数（S/m，温度范围-40°C至150°C）
• 接触电阻评估：电阻值（压力负荷0.5N-5N）

• 热导率测量：导热系数（W/m·K，参照ASTME1461）
• 热膨胀系数测试：CTE值（ppm/K，温度范围25°C-200°C）
• 热稳定性试验：绝缘电阻衰减率（老化温度150°C×1000h）

• 湿热老化试验：绝缘电阻变化（湿度95%RH×1000h）
• 温度循环测试：击穿电压漂移（循环次数500次）
• 盐雾腐蚀试验：表面电阻率变化（参照IEC60068-2-11）

• 弯曲疲劳试验：导电通路断裂率（弯曲角度±90°，次数1000次）
• 振动耐久测试：电阻值波动（频率10Hz-2000Hz）
• 冲击耐受性：绝缘层裂缝检测（冲击加速度50g）

• 紫外老化试验：介电常数变化（辐照量300kJ/m²）
• 高温贮存试验：体积电阻率衰减（贮存温度125°C×2000h）
• 氧化稳定性评估：tanδ值增加率（氧气浓度21%）

• 阻抗谱分析：复阻抗模值（频率扫描10Hz-10MHz）
• 介电频谱测试：损耗因子频率依赖性
• 射频特性评估：插入损耗（≤0.5dB，频率1GHz）

• 屏蔽效能测量：衰减值（dB，频率范围30MHz-1GHz）
• 静电放电试验：绝缘失效电压（ESD等级±8kV）
• 电磁干扰测试：传导发射限值（参照CISPR22）

• 寿命加速试验：MTTF值（激活能0.7eV）
• 失效分析：微短路检测（显微镜分辨率1μm）
• 封装完整性评估：气密性泄漏率（≤1×10⁻⁸Pa·m³/s）

检测范围

1.环氧树脂封装材料：应用于IC封装和LED器件，重点检测绝缘电阻稳定性和湿热老化性能。

2.硅胶封装材料：用于高柔性电子组件，侧重热膨胀系数匹配和介电损耗控制。

3.陶瓷封装材料：适用于高频电路和高功率器件，核心检测高频介电特性和热冲击耐受性。

4.聚酰亚胺薄膜：用于柔性电路板覆盖层，重点评估高温绝缘电阻和弯曲疲劳电性能。

5.热塑性塑料封装：常见于连接器和外壳，检测导电填充剂的分散均匀性和击穿电压。

6.复合封装材料：如玻璃纤维增强环氧，侧重环境适应性测试和机械电气综合性能。

7.导电胶黏剂：用于电子组装粘接，重点检测电导率稳定性和老化后电阻变化。

8.封装用涂层材料：如三防漆，核心评估介质损耗和盐雾腐蚀后绝缘性能。

9.金属化聚合物：应用于射频屏蔽，检测屏蔽效能和表面电阻率一致性。

10.纳米复合材料封装：用于先进传感器，重点测试高频介电常数和热导率提升效果。

检测方法

国际标准：

• IEC60243-1固体绝缘材料电气强度试验方法（AC测试为主）
• ASTMD150固体电绝缘材料介电特性标准测试（频率范围宽）
• ISO62塑料吸水性能测定（湿度控制严格）
• IEC60093绝缘材料体积电阻率和表面电阻率测试（高阻测量）
• IEC61006绝缘材料介质损耗和电容测量（tanδ精度高）
• ASTME1461热扩散率激光闪射法（非接触测量）
• IEC60068-2-14温度变化试验（快速温度循环）
• ISO4892-2塑料实验室光源暴露方法（紫外老化规范）
• IEC61000-4-2静电放电抗扰度试验（ESD等级划分）
• CISPR16-2-3无线电骚扰测量（传导干扰限值）

• GB/T1408.1绝缘材料电气强度试验方法（DC模式补充）
• GB/T1409绝缘材料介质损耗和电容测量（频率上限较低）
• GB/T1410固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验（测试电压范围窄）
• GB/T10297非金属固体材料导热系数测定（稳态法主导）
• GB/T2423.17盐雾试验方法（浓度控制差异）
• GB/T2423.22温度变化试验（循环速率较快）
• GB/T17626.2静电放电抗扰度试验（等级匹配IEC）
• GB/T17626.3射频电磁场辐射抗扰度试验（频率覆盖不足）
• GB/T2423.37湿热试验方法（湿度控制更严格）
• GB/T31838.7高分子材料寿命评估（加速模型简化）

检测设备

1.高阻计：Keysight4339B型（电阻测量范围10^4-10^16Ω，精度±5%）

2.介电常数测试系统：AgilentE4980A型（频率范围20Hz-20MHz，电容分辨率0.1fF）

3.绝缘强度测试仪：Chroma19032型（电压范围0-50kV，升压速率0.1-5kV/s）

4.热分析仪：TAInstrumentsQ400型（温度范围-150°C至600°C，热导率精度±3%）

5.环境试验箱：EspecPL-3KPH型（温湿度范围-70°C至180°C，湿度10%-98%RH）

6.LCR测试仪：HiokiIM3536型（阻抗测量频率4Hz-8MHz，基本精度±0.05%）

7.表面电阻测试仪：Trek152-1型（测试电压10V-1000V，电流范围1pA-20mA）

8.静电放电模拟器：EMTestDITO2000型（放电电压±0.5kV至±30kV，波形符合IEC）

9.频谱分析仪：R&SFSW26型（频率范围2Hz至26.5GHz，动态范围>160dB）

10.热冲击试验箱：WeissTS-780型（温度转换速率>15°C/min，范围-80°C至220°C）

11.盐雾腐蚀箱：AscottS1200型（喷雾量1-2ml/80cm²/h，温度控制±1°C）

12.紫外老化箱：Q-LABQUV/spray型（辐照强度0.35W/m²，波长340nm）

13.振动测试系统：LDSV890型（频率范围5Hz-3000Hz，最大加速度100g）

14.冲击试验台：LansmontS-211型（冲击加速度10g-500g，脉冲宽度2ms-20ms）

15.显微镜分析系统：OlympusBX53M型（放大倍数50-1000x，分辨率0.2μm）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质