石墨管元素成分分析

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

主量元素分析：

• 碳含量测定：总碳量≥99.97%（参照GB/T3521-2023）
• 灰分残留：≤300ppm（ISO8005:2023）

• 金属元素谱：Fe≤8ppm、Al≤5ppm、Ca≤3ppm（ASTMC1234-19）
• 非金属杂质：S≤0.5ppm、Cl≤0.2ppm（GB/T24582-2023）

• δ13C丰度比：-25‰至-28‰（ISO15366-2:2021）

• 热膨胀系数：≤4.5×10⁻⁶/K（元素杂质影响验证）
• 电阻率：≤8μΩ·m（参照JISR7221:2020）

• 晶格畸变率：XRD半峰宽≤0.15°（ISO20203:2018）
• 孔隙分布：孔径≤2μm占比≥90%（ASTMD4404-18）

• 氧吸附量：≤0.05wt%（高温失重法）

• 中子吸收截面：≤3.5mb（核级专用）

• 氧化起始温度：≥650℃（GB/T3074.1-2022）

• 酸溶出物：HF溶出率≤0.01%（ISO16153:2020）

• 抗压强度：≥80MPa（杂质相关性分析）

检测范围

1.核工业级石墨管：硼当量控制≤0.1ppm，侧重中子吸收截面与同位素一致性

2.高纯热解石墨管：碳纯度≥99.995%，重点检测金属杂质迁移率

3.等静压石墨管：各向异性比≤1.05，验证元素分布均匀性

4.涂层石墨管：硅/碳化硅涂层界面元素扩散深度≤5μm

5.单晶生长用石墨管：铝/钛杂质谱控制≤1ppm

6.光伏单晶炉热场管：钠/钾元素总量≤0.3ppm

7.高温烧结炉用石墨管：硫元素引发表面氧化倾向评估

8.半导体扩散炉管：重金属元素（Cu/Ni）≤0.05ppm

9.真空熔炼石墨管：氧吸附诱发微裂纹敏感性测试

10.分析仪器用石墨管：灰分残留对光谱背景干扰量化

检测方法

国际标准：

• ISO21068-1:2022石墨材料碳含量测定（高频燃烧法）
• ASTMC560-20石墨中氯元素测定（离子色谱法）
• ISO21587-3:2023电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）

• GB/T3521-2023石墨化学分析方法（主量元素差异：国标采用红外吸收法）
• GB/T24582-2023多晶硅用石墨件痕量元素检测（相比ISO增加微波消解预处理）
• GB/T3074.1-2022石墨电极氧化性测定（恒温失重法）

检测设备

1.辉光放电质谱仪：GD-MSVG9000型（检出限0.001ppb）

2.高频红外碳硫仪：ELTRACS8000型（碳检测精度±0.3ppm）

3.电感耦合等离子体光谱仪：PerkinElmerAvio550（波长范围165-782nm）

4.同位素质谱仪：ThermoDeltaVAdvantage（δ13C精度±0.05‰）

5.X射线衍射仪：BrukerD8ADVANCE（角度精度±0.0001°）

6.电子探针显微分析仪：JEOLJXA-8530F（空间分辨率0.1μm）

7.激光剥蚀系统：ESINWR213（剥蚀孔径2-200μm）

8.热重分析仪：NetzschSTA449F3（最高温度1600℃）

9.离子色谱仪：Metrohm930（阴离子检出限0.1ppb）

10.微波消解仪：MilestoneETHOSUP（压力范围0-200bar）

11.场发射扫描电镜：ZeissGemini500（分辨率0.6nm）

12.气体吸附仪：MicromeriticsASAP2460（孔径分析0.35-500nm）

13.高温电阻率仪：LinseisLSR-3（温度范围RT-1600℃）

14.原子吸收光谱仪：ShimadzuAA-7000（火焰/石墨炉双模式）

15.同步热分析仪：MettlerTGA/DSC3+（气氛控制纯度99.999%）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质