电子元器件抗硫化试验

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

电气性能测试：

• 电阻变化率：±5%偏差（参照IEC60115-1）
• 绝缘电阻：≥10^12Ω（如：阈值维持24小时）
• 漏电流：≤1μA（参照JEDECJESD22-A101）

• 抗拉强度：≥100MPa（如：屈服点评估）
• 弯曲强度：参照ASTMD790标准
• 硬度变化：维氏硬度（HV）差异±10%

• 硫化腐蚀深度：≤10μm（量化显微分析）
• 温湿度循环：-40°C至85°C（参照IEC60068-2-14）
• 气压变化：85kPa至106kPa（模拟高海拔）

• 硫化物沉积率：mg/cm²/小时（参照ISO9227）
• 氧化层完整性：无剥落（电子显微镜验证）
• PH值影响：中性至酸性范围（pH3-7）

• 热导率变化：±5%（参照ASTME1461）
• 热膨胀系数：≤10ppm/°C（如：阈值控制）
• 熔点稳定性：±2°C偏移

• 电化学阻抗：频率1Hz至1MHz（参照ASTMG106）
• 开路电位：mV级漂移（量化腐蚀倾向）
• 极化电阻：≥10kΩ·cm²

• 晶粒尺寸：≤5μm（金相显微镜评估）
• 孔隙率：≤0.1%（参照ASTME562）
• 裂纹密度：无可见缺陷

• 失效时间：小时级加速（参照JESD22-A110）
• 疲劳循环：≥10^6次（模拟机械应力）
• 老化速率：量化百分比/年

• 粗糙度变化：Ra≤0.8μm（参照ISO4287）
• 涂层附着力：≥5MPa（划格法测试）
• 光泽度：GU值差异±5%

• 信号干扰：dB级衰减（参照CISPR32）
• 辐射发射：≤30dBμV/m
• 抗扰度：10V/m场强耐受

检测范围

1.电阻器：薄膜与厚膜类型，检测硫化引起的电阻漂移（±5%上限）及端子腐蚀

2.电容器：陶瓷与电解电容，重点监测电容值衰减（≤10%）和泄漏电流（≤1μA）

3.集成电路：CMOS与Bipolar芯片，评估引脚腐蚀深度（≤10μm）及功能失效阈值

4.连接器：金或锡镀层端子，测试接触电阻变化（±5mΩ）和机械耐久性

5.晶体管：MOSFET与BJT器件，侧重电流增益漂移（≤5%）和热稳定性

6.传感器：气体与温度传感器，检测硫化导致的灵敏度偏移（±3%）和响应时间延迟

7.继电器：电磁式与固态类型，评估触点电阻（≤100mΩ）及开关寿命衰减

8.光电器件：LED与光电二极管，监测发光效率变化（≤10%）和暗电流增加

9.电源模块：DC-DC转换器，测试输出电压纹波（≤50mV）及效率下降（≤5%）

10.封装材料：环氧树脂与陶瓷基板，重点分析气密性失效和界面分层风险

检测方法

国际标准：

• IEC60068-2-60环境试验方法（硫化氢浓度控制10-100ppm）
• JEDECJESD22-A110加速寿命试验（温湿度85°C/85%RH）
• ASTMB117盐雾试验（差异：硫化气体替代盐雾）
• ISO9227腐蚀试验（模拟工业大气环境）

• GB/T2423.18环境试验（硫化试验方法，差异：温升速率较IEC慢）
• GB/T10125人造气氛腐蚀试验（浓度范围调整）
• GB/T17626.2电磁兼容（抗扰度测试，场强校准差异）
• GB/T5095电子设备试验（机械应力方法，循环次数定义不同）

检测设备

1.环境试验箱：Thermotron3900型（温度范围-70°C至180°C，湿度10-98%RH）

2.电阻测试仪：Keysight34465A型（精度±0.01%，量程0.1Ω至100MΩ）

3.光谱分析仪：OBLFQSN750-II型（检测限0.0001%，波长范围185-800nm）

4.显微镜系统：OlympusBX53型（放大倍数50-1000X，分辨率0.2μm）

5.万能材料试验机：Instron5969型（载荷范围0.01-50kN，精度±0.5%）

6.电化学工作站：GamryInterface1010E型（频率范围10μHz-1MHz，电位±10V）

7.热分析仪：NetzschSTA449F3型（温度范围RT-1600°C，灵敏度0.1μg）

8.气体浓度控制器：Environics4040型（流量0.1-10L/min，精度±1%）

9.表面粗糙度仪：MitutoyoSJ-410型（测量范围350μm，分辨率0.01μm）

10.信号发生器：Rohde&SchwarzSMJianCe100A型（频率范围9kHz-6GHz，输出电平-140-20dBm）

11.恒温恒湿箱：ESPECSH-661型（湿度控制±2%RH，温度均匀度±0.5°C）

12.泄漏电流测试仪：Keithley6517B型（电流范围1fA-20mA，电压0-1000V）

13.振动试验台：LDSV875型（频率范围5-3000Hz，加速度10g）

14.X射线衍射仪：BrukerD8Advance型（角度范围0-160°，精度0.0001°）

15.红外热像仪：FLIRT860型（温度范围-40°C-2000°C，分辨率640x480）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质