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X射线荧光光谱分析

2025-06-16 关键词:X射线荧光光谱分析测试周期,X射线荧光光谱分析测试标准,X射线荧光光谱分析测试仪器 相关:
X射线荧光光谱分析

X射线荧光光谱分析摘要:X射线荧光光谱分析(XRF)是一种无损检测技术,通过X射线源激发样品产生特征荧光,探测器测量能量或波长以定量元素组成。核心检测对象包括固体、粉末或液体材料中的金属、矿物和环境污染物。关键项目涵盖主量元素(如Fe、Ca)和微量元素(如Pb、Cd)的浓度分析,检测限达ppm级,支持快速质量控制和研究应用。

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

金属元素分析:

  • 铁含量:Fe浓度≥98.5%(参照ISO9516)
  • 铜含量:Cu精度±0.03wt%(检测限0.001%)
  • 铝含量:Al偏差≤0.05%
合金成分检测:
  • 不锈钢铬镍比:Cr/Ni≥1.5(参照GB/T223)
  • 钛合金钒含量:V浓度10-15wt%
  • 铝合金硅含量:Si≤12.0%
环境污染物监测:
  • 铅污染:Pb≤100ppm(参照EPA6200)
  • 镉含量:Cd检测限0.5ppm
  • 汞浓度:Hg精度±0.1ppm
矿物组分分析:
  • 石英硅含量:SiO2≥95.0%
  • 铁矿铁品位:TFe≥62.0%
  • 铜矿铜含量:Cu≥0.5%
塑料添加剂检测:
  • 溴化阻燃剂:Br浓度≥500ppm
  • 铅稳定剂:Pb≤50ppm
  • 镉颜料:Cd检测限1ppm
涂料成分分析:
  • 钛白粉含量:TiO2≥90.0%
  • 锌防锈剂:Zn浓度5-10wt%
  • 铬颜料:Cr偏差±0.1%
土壤重金属检测:
  • 砷污染:As≤40ppm(参照GB15618)
  • 镍含量:Ni精度±0.05ppm
  • 铜积累:Cu监测限0.1ppm
食品添加剂分析:
  • 铁强化剂:Fe浓度50-100ppm
  • 锌营养剂:Zn≥10ppm
  • 铅残留:Pb≤0.1ppm
电子产品有害物质:
  • 铅焊料:Pb≤0.1%(参照RoHS)
  • 镉镀层:Cd检测限0.01%
  • 汞电池:Hg浓度≤5ppm
地质样品元素分布:
  • 铀含量:U≥100ppm
  • 钍浓度:Th精度±2ppm
  • 稀土元素:La检测限0.5ppm

检测范围

1.钢铁材料:涵盖碳钢、合金钢和不锈钢,重点检测Cr、Ni元素偏差和夹杂物

2.有色金属合金:包括铝合金、铜合金和钛合金,侧重主量元素精度和杂质控制

3.环境土壤:针对污染场地,聚焦Pb、Cd、As重金属积累监测

4.矿物矿石:涵盖铁矿石、铜矿石和金矿,重点分析主元素品位和伴生元素

5.塑料制品:包括包装材料和工程塑料,检测溴化阻燃剂和重金属添加剂

6.涂料涂层:针对工业涂料和颜料,侧重Ti、Zn、Cr成分均匀性

7.食品包装:涵盖金属罐和塑料膜,重点监测Pb、Cd迁移残留

8.电子元器件:包括电路板和连接器,聚焦RoHS有害物质限量

9.地质岩芯:针对勘探样品,侧重U、Th、稀土元素分布

10.废弃物:包括固体废物和污泥,重点分析重金属回收率

检测方法

国际标准:

  • ISO9516金属矿石XRF定量方法(波长色散优先)
  • ASTMD4326环境样品XRF分析(能量色散适用)
  • EPA6200土壤污染物XRF检测(现场快速筛查)
国家标准:
  • GB/T223钢铁XRF成分分析(校准曲线差异)
  • GB15618土壤重金属XRF方法(下限值较低)
  • GB/T31364塑料添加剂XRF检测(样品制备简化)

检测设备

1.波长色散XRF光谱仪:RigakuZSXPrimusII(分辨率≤40eV)

2.能量色散XRF分析仪:ThermoScientificNitonXL3t(检测元素NatoU)

3.台式XRF设备:BrukerS8TIGER(精度±0.01%)

4.手持XRF检测器:OlympusVanta(检测限0.1ppm)

5.实验室XRF系统:ShimadzuEDX-8000(样品室尺寸200mm)

6.多元素XRF分析仪:PANalyticalAxios(激发电压60kV)

7.便携式XRF设备:HitachiX-MET8000(重量1.5kg)

8.高分辨率XRF仪:RigakuZSXPrimusIV(检测速度≤30秒)

9.环境专用XRF系统:ThermoScientificARLQUANT'X(动态范围10^6)

10.矿物分析XRF仪:BrukerS6JAGUAR(软件兼容地质数据库)

11.食品安全XRF设备:OlympusDelta(校准标准GSP)

12.塑料检测XRF仪:ShimadzuEDX-7000(检测限0.5ppm)

13.电子器件XRF分析仪:HitachiEA1400(RoHS合规模式)

14.土壤专用XRF检测器:NitonXL2(GPS定位功能)

15.研究级XRF光谱仪:PANalyticalEpsilon(真空系统优化)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

中析仪器 资质

中析X射线荧光光谱分析 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师

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