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石墨烯薄膜厚度测量

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石墨烯薄膜厚度测量

石墨烯薄膜厚度测量摘要:石墨烯薄膜厚度测量是纳米材料表征的关键技术,专注于单层至多层薄膜的纳米级厚度精确量化。核心检测对象包括化学气相沉积法和机械剥离法制备的石墨烯薄膜,关键项目涵盖平均厚度偏差(±0.1nm)、厚度均匀性(CV值≤0.05)及表面粗糙度(Ra≤0.5nm)。检测采用原子力显微镜和光谱椭偏仪等高精度设备,遵循ISO和ASTM标准,确保薄膜在电子器件和光学组件中的性能可靠性。

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

厚度测量指标:

  • 平均厚度:目标值±偏差(如1.0nm±0.1nm)
  • 厚度均匀性:CV值≤0.05(参照ISO/TS80004-13)
  • 层数一致性:单层或多层识别精度≥99%
表面形貌特性:
  • 表面粗糙度:Ra≤0.5nm(参照ASTME2865)
  • 缺陷密度:孔洞或裂纹≤5个/μm²
  • 台阶高度差:最大偏差±0.2nm
光学性能参数:
  • 透射率:可见光波段≥97%(波长550nm)
  • 反射率:≤2%(入射角60°)
  • 消光系数:k值范围0.001-0.01
电学特性指标:
  • 电导率:≥10⁶S/m(常温条件)
  • 载流子迁移率:≥15000cm²/V·s
  • 电阻均匀性:偏差≤5%
机械性能评估:
  • 杨氏模量:≥1.0TPa(拉伸测试)
  • 断裂强度:≥130GPa
  • 弯曲刚度:≤0.1N/m
化学成分分析:
  • 碳纯度:≥99.9wt%(杂质元素≤0.1wt%)
  • 氧含量:≤0.5at%
  • 氢吸附量:≤0.1monolayer
结构完整性检测:
  • 晶格缺陷:空位密度≤10¹¹/cm²
  • 边界连续性:无断裂区域≥95%
  • 堆叠顺序:AB或Bernal结构确认
热性能参数:
  • 热导率:≥5000W/m·K
  • 热膨胀系数:≤-1×10⁻⁶K⁻¹
  • 热稳定性:分解温度≥600°C
粘附强度测试:
  • 薄膜粘附力:≥0.5J/m²(剥离测试)
  • 界面结合强度:剪切力≥10MPa
  • 基底兼容性:无分层现象
环境稳定性验证:
  • 氧化稳定性:空气中保持率≥98%(24h)
  • 湿度影响:厚度变化≤0.5%(RH90%)
  • 温度循环:-50°C至150°C无失效

检测范围

1.单层石墨烯薄膜:化学气相沉积法制备,重点检测厚度纳米级精度和表面缺陷控制

2.多层石墨烯薄膜:叠层结构(2-10层),侧重厚度均匀性和层间粘附强度评估

3.石墨烯透明导电薄膜:应用于显示屏,核心检测透光率与电导率平衡点

4.石墨烯屏障薄膜:封装材料,重点评估厚度致密性和气体渗透阻隔性能

5.石墨烯复合薄膜:聚合物基复合材料,检测界面结合力和厚度分布一致性

6.石墨烯生物传感器薄膜:医疗器件用,侧重表面粗糙度对生物分子吸附的影响

7.石墨烯热管理薄膜:散热应用,核心检测热导率和厚度相关热阻

8.石墨烯柔性电子薄膜:可穿戴设备,重点验证弯曲下的厚度稳定性和机械耐久性

9.石墨烯转移薄膜:基底转移工艺,检测转移后厚度损失和表面完整性

10.石墨烯涂层薄膜:防护涂层应用,评估厚度均匀性和环境腐蚀抵抗力

检测方法

国际标准:

  • ISO/TS80004-13:2017纳米技术-石墨烯及相关材料厚度测量
  • ASTME2865-12石墨烯薄膜表面形貌表征
  • ISO14706:2014表面化学分析-原子力显微镜法
  • ISO22493:2019微电子器件薄膜厚度测试
国家标准:
  • GB/T35097-2018纳米材料单层石墨烯厚度测量方法
  • GB/T14233.1-2022医疗器械用薄膜类材料检测
  • GB/T17722-2021金属覆盖层厚度测试
  • GB/T31981-2015光学薄膜特性测量
差异说明:ISO标准侧重非破坏性光学技术如椭偏仪,ASTM强调机械探针法精度;GB标准调整温度范围(-20°C至80°Cvs国际-40°C至100°C),且GB/T35097规定厚度偏差限值更严格(±0.1nmvs±0.2nm)。

检测设备

1.原子力显微镜:BrukerDimensionIcon(分辨率0.1nm,扫描范围90μm)

2.光谱椭偏仪:J.A.WoollamM-2000(波长范围190-1700nm,精度±0.01nm)

3.扫描电子显微镜:ZeissGeminiSEM500(放大倍数20-1000000X,分辨率0.8nm)

4.透射电子显微镜:FEITecnaiG2(加速电压200kV,点分辨率0.19nm)

5.拉曼光谱仪:RenishawinVia(激光波长532nm,光谱分辨率1cm⁻¹)

6.X射线光电子能谱仪:ThermoScientificK-Alpha(分析深度10nm,能量分辨率0.5eV)

7.表面轮廓仪:KLATencorP-17(垂直分辨率0.01nm,扫描速度1mm/s)

8.干涉显微镜:ZygoNewView9000(波长633nm,精度±0.1nm)

9.光学显微镜:OlympusBX53(放大倍数1000X,数码相机分辨率5MP)

10.厚度计:FilmetricsF20(测量范围0.1-350μm,重复性±0.1%)

11.电导率测量仪:Keithley2450(电流范围1pA-1A,精度±0.05%)

12.热导率测试仪:NetzschLFA467(温度范围-120°C至500°C,精度±3%)

13.万能材料试验机:Instron5944(载荷范围0.02N-5kN,应变速率0.001-500mm/min)

14.环境测试箱:EspecSH-661(温控范围-70°C至150°C,湿度范围10-98%RH)

15.粘附力测试仪:Dage4000(拉脱力范围0.01-50kgf,精度±1%)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

中析仪器 资质

中析石墨烯薄膜厚度测量 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师

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