电极箔检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

物理性能检测：

• 厚度均匀性：厚度偏差≤±3%（GB/T22638.2）
• 抗拉强度：纵向≥100MPa，横向≥95MPa（ISO6892-1）
• 延伸率：纵向≥3%，横向≥2.5%

• 隧道孔密度：8000-15000孔/cm²（SEM观测法）
• 蚀坑深宽比：1.5-2.2（激光共聚焦显微镜）
• 表面粗糙度：Ra0.8-1.5μm（ISO4287）

• 比容量（CV值）：≥0.75μF/cm²@50Hz（JISC5141）
• 击穿电压（WV）：≥680V（GB/T22638.5）
• 漏电流：≤0.5μA/cm²@WV×0.8（IEC60384-4）

• 氧化膜厚度：0.8-1.2μm（椭圆偏振法）
• 介电常数：ε≥8.5@1kHz（ASTMD150）
• 氧化膜密度：≥3.1g/cm³（X射线反射法）

• 基体纯度：Al≥99.99wt%（GB/T20975.25）
• 痕量元素：Fe≤50ppm，Cu≤20ppm（ICP-OES）
• 表面处理元素：P含量0.5-1.2μg/cm²（XPS分析）

• 隧道孔贯通率：≥98%（截面TEM）
• 腐蚀因子：3.0-4.5倍（质量法测算）
• 枝晶分布：枝晶长度≤15μm（金相法）

• 热收缩率：≤0.3%@150℃×30min（GB/T22638.8）
• 高温漏电：≤2.0μA/cm²@125℃（IEC60384-4）

• 粘结强度：≥1.5N/mm（180°剥离法）
• 界面阻抗：≤50mΩ·cm²（EIS测试）

• 盐雾耐蚀：≥48h无点蚀（GB/T10125）
• 湿热老化：CV衰减率≤5%@85℃/85%RH×1000h

• 晶粒尺寸：30-50μm（EBSD分析）
• 取向分布：立方织构≥95%（XRD极图法）

检测范围

1.高压阳极箔：工作电压≥500V，重点检测氧化膜结晶度及隧道孔垂直度

2.低压腐蚀箔：CV值0.4-0.7μF/cm²，侧重蚀坑均匀性及残留酸根检测

3.阴极电子铝箔：厚度30-50μm，核心检测表面碳含量及复合层附着力

4.软态退火箔：硬度HV≤25，主要评估再结晶度及表面润滑剂残留

5.硬质光箔：抗拉强度≥150MPa，重点控制晶界杂质偏析及板形平整度

6.磷酸处理箔：表面P含量0.3-1.0μg/cm²，检测处理层覆盖率及耐水解性

7.钛复合电极箔：钛层厚度0.05-0.2μm，侧重界面扩散层分析及接触电阻

8.有机涂层箔：涂布量1.5-3.5g/m²，核心检测涂层固化度及介电损耗

9.纳米复合箔：添加剂分散粒径≤100nm，重点评估分散均匀性及阻抗特性

10.再生铝电极箔：杂质总量≤0.03wt%，严格监控铜锌迁移率及循环寿命

检测方法

国际标准：

• IEC60384-4铝电解电容器分规范
• JISH4160铝及铝合金箔
• ASTMB487金属氧化物涂层厚度测量
• ISO17475电化学阻抗谱（EIS）法

• GB/T22638铝箔试验方法系列标准
• GB/T3615电解电容器用铝箔
• GB/T24525金属表面磷化膜检测
• SJ/TJianCe83电极箔电性能测试规程

检测设备

1.自动CV测试仪：HIOKIIM3590型（频率范围4Hz-200kHz，精度±0.05%）

2.场发射扫描电镜：ZEISSGemini500（分辨率0.8nm@15kV，ETD探测器）

3.原子力显微镜：BrukerDimensionIcon（扫描范围90μm，分辨率0.2nm）

4.电化学工作站：GamryInterface1010E（电流分辨率＜10pA，电位范围±32V）

5.高频阻抗分析仪：KeysightE4990A（频率范围20Hz-120MHz，基本精度0.045%）

6.X射线光电子能谱仪：ThermoScientificK-Alpha+（能量分辨率＜0.5eV，检出限0.1at%）

7.电感耦合等离子体光谱仪：PerkinElmerAvio550（轴向观测，检出限ppb级）

8.台阶仪：KLA-TencorP-7（纵向分辨率0.1Å，扫描速度10mm/s）

9.激光共聚焦显微镜：OlympusLEXTOLS5000（横向分辨率120nm，Z轴重复性1nm）

10.热机械分析仪：NETZSCHTMA402F3（温度范围-150℃-1000℃，分辨率0.1nm）

11.同步热分析仪：MettlerToledoTGA/DSC3+（称重精度0.1μg，升温速率0.01-300K/min）

12.电子背散射衍射仪：EDAXVelocitySuperEBSD（采集速度＞4000点/秒，分辨率0.1μm）

13.多功能材料试验机：Instron5967（载荷范围0.02-30kN，应变速率0.0005-1000mm/min）

14.氦质谱检漏仪：PfeifferVacuumASM390（漏率检测下限5×10¯¹³mbar·L/s）

15.X射线衍射仪：BrukerD8Advance（2θ角度范围-110°-168°，分辨率＜0.0001°）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质