反射式滤波片检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

中心波长：测量范围200-2000nm，精度±0.1nm（ISO 13695）

带宽：半高全宽(FWHM)测定，范围1-100nm，分辨率0.5nm（GB/T 18900）

反射率：特定波长下如1550nm处，目标值>98%，误差±0.5%（ISO 13696）

透射率：最小透射率<0.1%，测量波长400-700nm（ASTM E308）

角度依赖性：入射角变化0-60度，反射率波动<1%（ISO 13697）

热漂移：温度范围-40°C至85°C，波长偏移<0.01nm/°C（MIL-STD-810G）

表面粗糙度：RMS值<1nm，扫描面积1mm²（GB/T 1031）

偏振敏感性：TE/TM模式差异<0.5%，波长1550nm（ISO 13698）

环境耐久性：湿度测试95%RH，72小时无性能衰减（GB/T 2423.3）

化学稳定性：耐溶剂浸泡如乙醇，24小时无腐蚀（ISO 9211-4）

均匀性：光谱响应偏差<2%，全表面扫描（GB/T 18901）

寿命测试：连续工作1000小时，反射率下降<0.5%（IEC 61300-2-14）

机械强度：耐压测试50N，无裂纹或变形（GB/T 16422.2）

检测范围

光学玻璃反射式滤波片：用于激光系统和光谱仪器

金属膜涂层滤波片：适用于红外传感和热成像设备

介质膜滤波片：用于高精度光学通信组件

聚合物基光学滤波器：轻量化设计，用于消费电子产品

红外反射滤波片：波长范围3-5μm，用于夜视系统

紫外反射滤波片：波长200-400nm，用于生物检测设备

激光防护滤波片：特定波长如532nm或1064nm阻断

通信波段滤波片：如1310nm或1550nm DWDM应用

汽车光学组件滤波片：用于LiDAR和ADAS系统

医疗设备滤波片：内窥镜和诊断仪器光学部件

军事应用滤波片：抗干扰和隐身技术组件

工业传感滤波片：过程监控和自动化控制设备

航空航天光学滤波片：耐极端环境卫星系统

检测方法

光谱反射率测试：使用积分球系统，依据ISO 13696标准

透射光谱测量：基于单色仪方法，执行GB/T 18310.22规范

角度依赖性分析：可变角度入射装置，按照ASTM E903规程

热漂移评估：恒温循环测试，遵循MIL-STD-810G要求

表面粗糙度检测：干涉仪扫描，依据GB/T 1031标准

偏振分析：旋转偏振器技术，符合ISO 13697方法

环境湿热试验：恒湿恒温箱操作，执行GB/T 2423.3步骤

化学稳定性验证：浸泡和擦拭测试，参考ISO 9211-4流程

带宽计算：光谱数据处理算法，基于ISO 13695定义

均匀性评估：多点采样扫描，采用GB/T 18901规范

机械强度测试：压力施加和形变监测，依据GB/T 16422.2标准

寿命加速试验：高温高湿循环，参考IEC 61300-2-14方法

检测设备

光谱分析仪OceanOptics HR4000：波长范围200-1100nm，分辨率0.1nm

激光源系统Coherent Verdi V2：输出波长532nm，功率稳定性±0.5%

积分球装置Labsphere IS-050-SL：反射率测量，孔径50mm

恒温测试箱Espec PSL-2KPH：温度范围-70°C至180°C，控制精度0.1°C

表面轮廓仪Bruker Dektak XT：垂直分辨率0.01nm，扫描长度100mm

偏振分析仪Thorlabs PAX1000：波长范围400-1700nm，精度0.1度

环境试验室Weiss WK3-180/70：湿度控制10-95%RH，温度-40°C至180°C

耐久性测试机Taber 5135 Abraser：摩擦循环次数可调至10000次

光学显微镜Olympus BX53：放大倍数1000X，带数字成像系统

数据采集单元NationalInstruments PXIe-1071：多通道信号处理，采样率1MS/s

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质