钼帘检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.厚度均匀性：测量范围0.05-2.00mm，精度0.005mm
2.钼纯度分析：Mo≥99.95%，杂质元素总量≤500ppm
3.晶粒度评级：ASTME112标准评定1-8级
4.表面粗糙度：Ra≤0.8μm（激光共聚焦显微镜测量）
5.拉伸强度测试：室温条件下≥550MPa
6.热膨胀系数：20-1000℃范围内（5.80.3）10⁻⁶/℃
7.电子逸出功：4.2-4.4eV（开尔文探针法）

检测范围

1.核反应堆中子吸收组件
2.医用直线加速器靶材
3.高温炉热场屏蔽系统
4.半导体溅射镀膜基材
5.航天器热防护层衬底
6.X射线管旋转阳极组件
7.真空电子束焊接隔离屏

检测方法

1.ASTME2371-13：X射线荧光光谱法测定钼及钼合金化学成分
2.ISO6892-1:2019：金属材料室温拉伸试验方法
3.GB/T4334-2020：金属和合金的腐蚀试验方法
4.ASTME384-22：材料显微硬度测试标准
5.GB/T13298-2015：金属显微组织检验方法
6.ISO12107:2012：金属材料疲劳试验统计方案
7.ASTMF76-08(2020)：半导体材料电阻率测试规范

检测设备

1.BrukerS8TIGERXRF光谱仪（波长色散型）
2.ZEISSGeminiSEM500场发射扫描电镜
3.MTSCriterion万能材料试验机（100kN量程）
4.NetzschDIL402C热膨胀仪（最高1600℃）
5.KeyenceVK-X3000激光共聚焦显微镜
6.OxfordInstrumentsAZtecEnergyEDS能谱系统
7.Agilent7900ICP-MS电感耦合等离子体质谱仪
8.MitutoyoSJ-410表面粗糙度测量仪
9.Instron8862动态疲劳试验机
10.ThermoScientificARLEQUINOX1000XRD衍射仪

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质