纯硅芯光纤检测
纯硅芯光纤检测摘要：检测项目1.几何参数：芯径（1250.5μm）、包层直径（2455μm）、同心度误差（≤0.5μm）2.光学性能：衰减系数（1310nm≤0.35dB/km,1550nm≤0.22dB/km）、截止波长（126050nm）3.机械特性：拉伸强度（≥4.5GPa）、动态疲劳参数（nd≥20）4.环境适应性：温度循环（-60℃~+85℃,100次循环后衰减变化≤0.05dB/km）5.化学稳定性：氢老化试验（40℃/1atmH₂环境14天,附加衰减≤0.03dB/km）检测范围1.G.652.D标准单模通信光
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
1.几何参数：芯径（1250.5μm）、包层直径（2455μm）、同心度误差（≤0.5μm）
2.光学性能：衰减系数（1310nm≤0.35dB/km,1550nm≤0.22dB/km）、截止波长（126050nm）
3.机械特性：拉伸强度（≥4.5GPa）、动态疲劳参数（nd≥20）
4.环境适应性：温度循环（-60℃~+85℃,100次循环后衰减变化≤0.05dB/km）
5.化学稳定性：氢老化试验（40℃/1atmH₂环境14天,附加衰减≤0.03dB/km）
检测范围
1.G.652.D标准单模通信光纤
2.OM3/OM4多模梯度折射率光纤
3.抗辐射加固型特种光纤（空间应用）
4.掺铒/掺镱稀土元素增益光纤
5.光子晶体光纤预制棒及成品
检测方法
1.IEC60793-1-20:2014几何参数近场成像法
2.IEC60793-1-40:2019OTDR背向散射法测衰减
3.ASTMD4566-19机械强度四点弯曲试验
4.GB/T15972.30-2021温度循环试验规程
5.GB/T15972.50-2021氢老化加速试验方法
检测设备
1.EXFOFGM-200光纤几何分析仪（分辨率0.01μm）
2.YokogawaAQ1200光时域反射计（动态范围45dB）
3.Instron5943微力拉力试验机（精度0.1%）
4.ESPECPL-3J温循箱（升降温速率15℃/min）
5.HORIBALabRAMHR拉曼光谱仪（激光波长532nm）
6.Agilent81600B可调谐激光源（波长范围1260-1640nm）
7.KeysightN7788B偏振分析系统（PMD测量精度0.01ps）
8.BrukerContourGT-X3白
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析纯硅芯光纤检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
30461
