沟道击穿检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.击穿电压（BreakdownVoltage）：测量介质失效时的临界电压值（0.1kV-40kV）
2.漏电流（LeakageCurrent）：记录击穿前稳态电流（1nA-10mA）
3.耐压时间（WithstandTime）：维持额定电压下的持续时长（60s-3600s）
4.温度系数（TemperatureCoefficient）：评估-40℃至150℃温域内击穿特性变化
5.绝缘电阻（InsulationResistance）：测量介质层电阻值（10MΩcm至100GΩcm）

检测范围

1.半导体材料：SiC晶圆、GaN外延片、MOSFET栅极氧化层
2.绝缘涂层：聚酰亚胺薄膜、陶瓷喷涂层、环氧树脂封装材料
3.电子元件：高压电容器介质膜、IGBT模块、光耦隔离器
4.高分子材料：PTFE基板、PET绝缘带、硅橡胶密封件
5.电力设备部件：变压器绕组纸、断路器灭弧室、电缆终端附件

检测方法

1.ASTMD149：固体电绝缘材料工频击穿电压测试法（AC/DC模式可选）
2.IEC60243：塑料材料击穿强度测定（电极直径6mm0.1mm）
3.GB/T1408.1：绝缘材料电气强度试验方法（升压速率500V/s）
4.JISC2110：陶瓷介质耐压特性测试（油浸环境控制）
5.GB/T1695：硫化橡胶工频击穿电压测定（试样厚度2mm0.1mm）

检测设备

1.KeysightB1505A功率器件分析仪：支持3000V/1000A脉冲测试
2.Chroma19032耐压测试仪：AC5kV/DC6kV双模式输出
3.HiokiST5520表面电阻计：10^3-10^16Ω测量范围
4.TektronixPA3000高压探头：200MHz带宽/7500Vpk量程
5.ESPECPCT-322气候箱：温度循环+湿度复合应力测试
6.Agilent4294A阻抗分析仪：40Hz-110MHz介质损耗测量
7.MeggerMIT525绝缘测试仪：极化指数与步进电压测试
8.HIOKIIR4056接地电阻仪：四端子法接触阻抗检测
9.FLUKE1587FC绝缘万用表：带电电路安全测量功能
10.GWInstekTOS-8850安规综合测试系统：IEC61010全项自动测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质