逻辑芯片检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.电气性能测试：静态电流（≤10μA@待机）、工作电压范围（0.8V-3.3V5%）、输入/输出电平阈值（VIH=0.7VDD,VIL=0.3VDD）
2.时序特性验证：建立时间（tSU≥1.5ns）、保持时间（tH≥0.8ns）、传播延迟（tPD≤2.2ns@25℃）
3.功耗分析：动态功耗（P=CVf5%）、热设计功耗（TDP≤15W@85℃）
4.信号完整性测试：串扰噪声（≤50mVpp）、眼图张开度（≥0.7UI）、上升/下降时间（tr/tf≤0.5ns）
5.封装可靠性：热阻测试（θJA≤35℃/W）、机械应力（500G@0.5ms）、湿度敏感等级（MSL3级）

检测范围

1.数字逻辑芯片：CPU/GPU核心模块、FPGA可编程器件
2.接口控制芯片：PCIe/USBPHY层控制器、DDR内存控制器
3.电源管理芯片：DC-DC转换器、LDO稳压器
4.车规级芯片：AEC-Q100Grade1认证器件（-40℃~125℃）
5.先进制程芯片：7nmFinFET工艺节点器件

检测方法

1.电气特性测试：ASTMF1241-2018半导体参数测量规范、GB/T17574-2021集成电路电气特性测试
2.时序验证：JESD79-4FDDR4接口时序标准、ISO11452-11高速数字信号完整性测试
3.环境试验：MIL-STD-883Method1012温度循环试验、GB/T2423.22交变湿热试验
4.失效分析：EIA/JESD22-A110E静电放电测试、IEC60749-20机械冲击试验
5.信号质量评估：TIA-899MIPI一致性测试规范、USB-IF电气合规性测试流程

检测设备

1.KeysightB1500A半导体参数分析仪：支持IV/CV曲线扫描及超低电流测量（10fA分辨率）
2.TektronixMSO68B混合信号示波器：8通道16GHz带宽，支持PCIe5.0眼图分析
3.AdvantestV93000ATE测试系统：1024数字通道配置，支持并行多站点测试
4.ThermoStreamT-2600温度冲击箱：-65℃~+200℃温变速率＞50℃/min
5.ESPECEHS-211M恒温恒湿箱：10%~98%RH控制精度2%
6.SonixHAWK-EYEIIIX射线检测仪：130kV微焦点系统（＜1μm分辨率）
7.NordsonDAGE4000推拉力测试机：最大推力500kgf（精度0.25%）
8.OLYMPUSLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：12000光学放大倍率
9.Agilent4294A阻抗分析仪：40Hz-110MHz频率范围（基本精度0.08%）
10.Chroma3380电源综合测试仪：32通道PMU模块集成方案

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质