金刚石点阵检测摘要:检测项目1.点阵常数测定:采用X射线衍射法测量晶面间距(d值),精度达0.0001nm2.晶体缺陷分析:通过TEM观测位错密度(≤10^4cm⁻)及层错能(≥5mJ/m)3.元素成分分析:EDS检测杂质元素含量(B/N/Si≤50ppm)4.热稳定性测试:TG-DSC联用测定氧化起始温度(≥800℃)5.力学性能表征:纳米压痕法测量硬度(80-120GPa)与弹性模量(900-1200GPa)检测范围1.单晶金刚石:用于光学窗口与半导体衬底2.CVD金刚石膜:应用于热沉基板与耐磨涂层3.PCD复合片:适用
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1.点阵常数测定:采用X射线衍射法测量晶面间距(d值),精度达0.0001nm
2.晶体缺陷分析:通过TEM观测位错密度(≤10^4cm⁻)及层错能(≥5mJ/m)
3.元素成分分析:EDS检测杂质元素含量(B/N/Si≤50ppm)
4.热稳定性测试:TG-DSC联用测定氧化起始温度(≥800℃)
5.力学性能表征:纳米压痕法测量硬度(80-120GPa)与弹性模量(900-1200GPa)
1.单晶金刚石:用于光学窗口与半导体衬底
2.CVD金刚石膜:应用于热沉基板与耐磨涂层
3.PCD复合片:适用于石油钻头与切削刀具
4.纳米多晶金刚石:用于MEMS器件与生物传感器
5.掺杂金刚石材料:包括硼掺杂导电金刚石与氮掺杂荧光金刚石
1.ASTME2860-12:X射线衍射法测定立方晶系点阵参数
2.ISO22309:2011:电子探针显微分析元素组成
3.GB/T16555-2017:碳化硅耐火材料中碳含量测定
4.ISO14577-1:2015:仪器化压痕硬度测试规程
5.GB/T30704-2014:电子背散射衍射分析方法通则
1.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪:配备LynxEye阵列探测器,角度分辨率0.0001
2.FEITalosF200X透射电镜:STEM模式分辨率0.16nm
3.ShimadzuAIM-9000纳米压痕仪:最大载荷500mN,位移分辨率0.01nm
4.NetzschSTA449F5同步热分析仪:温度范围RT-1600℃,升温速率0.01-50K/min
5.OxfordInstrumentsX-MaxN150EDS探测器:能量分辨率127eV@MnKα
6.HORIBALabRAMHREvolution拉曼光谱仪:光谱范围200-1800cm⁻,空间分辨率0.5μm
7.ZEISSSigma500场发射扫描电镜:二次电子分辨率0.8nm@15kV
8.Agilent5500原子力显微镜:接触模式分辨率0.1nm
9.ThermoScientificDXR3SmartRaman光谱仪:激光波长532/785nm可调
10.MalvernPanalyticalEmpyreanX射线衍射平台:配置高温附件(最高1600℃)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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