膜结晶检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.结晶度测定：XRD全谱拟合法定量计算非晶/结晶相比例（0-100%）
2.晶型结构分析：2θ角扫描范围5-80，分辨率≤0.02
3.晶粒尺寸分布：Scherrer方程计算平均晶粒尺寸（10-500nm）
4.结晶温度范围：DSC法测定熔融峰起始温度至终止温度（精度0.5℃）
5.结晶动力学参数：Avrami指数n值及结晶速率常数k值计算

检测范围

1.高分子分离膜：包括PVDF、PP、PE等微滤/超滤膜材料
2.药物缓释膜：乙基纤维素、壳聚糖基药用薄膜
3.光伏薄膜：钙钛矿太阳能电池用结晶功能层
4.食品包装膜：双向拉伸聚酯（BOPET）阻隔膜
5.工业陶瓷膜：氧化铝、氧化锆基多孔支撑体

检测方法

1.ASTME1941-04：X射线衍射法测定聚合物结晶度标准规程
2.ISO11357-3:2018：差示扫描量热法（DSC）测定熔融焓值
3.GB/T19421.1-2003：层状晶体化合物X射线衍射分析方法
4.ASTMD3418-15：聚合物相变温度测定标准方法
5.GB/T30704-2014：电子背散射衍射（EBSD）晶体取向分析

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备高温附件（RT-1500℃），CBO单色器
2.PerkinElmerDSC8000：温度范围-170℃~725℃，灵敏度0.1μW
3.MalvernMastersizer3000：激光粒度仪（0.01-3500μm）
4.NetzschDIL402ExpedisClassic：热膨胀仪（分辨率0.125nm）
5.FEIQuanta650FEG：场发射扫描电镜（1nm分辨率）
6.BrukerD8ADVANCEDAVINCI：多功能XRD系统（3D探测器）
7.TAInstrumentsQ2000：调制DSC（MDSC）系统
8.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探测器：空间分辨率50nm
9.AntonPaarLitesizer500：纳米粒度及Zeta电位分析仪
10.LinkamTHMS600：变温显微镜系统（-196℃~600℃）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质