纹理化检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.表面粗糙度（Ra）：测量范围0.01-100μm，分辨率0.001μm
2.纹理深度（Rz）：计算最大峰谷高度差，适用ISO4287标准
3.波纹度（Wt）：评估波长0.8-10mm的周期性起伏
4.峰顶密度（Sm）：统计单位长度内轮廓峰数量
5.各向异性系数（Str）：量化纹理方向性特征

检测范围

1.金属轧制板材：冷轧钢板/铝板表面织构分析
2.工程塑料件：注塑成型件流痕纹路检测
3.陶瓷基复合材料：烧结表面晶粒定向排列评估
4.光学镀膜基材：纳米级抛光面微观起伏测量
5.增材制造部件：3D打印层间熔合线形貌表征

检测方法

1.接触式测量：执行GB/T10610-2009标准，使用半径2μm金刚石探针
2.白光干涉法：依据ISO25178-2进行三维形貌重建
3.激光共聚焦：按ASTME1817获取亚微米级Z轴分辨率
4.SEM图像分析：参照GB/T23414-2009计算微区纹理参数
5.EBSD定向测试：基于ISO24173标准解析晶体学织构

检测设备

1.TaylorHobsonSurtonicS128：接触式轮廓仪，量程500μm
2.BrukerContourGT-X8：白光干涉三维显微镜，横向分辨率0.1μm
3.KeyenceVR-5000：激光共聚焦扫描系统，Z轴重复精度3nm
4.OlympusLEXTOLS5000：3D激光显微镜，1200万像素CCD
5.ZeissSigma500：场发射扫描电镜，配备OxfordEBSD探测器
6.MitutoyoSJ-411：便携式粗糙度仪，符合JISB0601标准
7.NanoveaST400：非接触式三维轮廓仪，最大扫描面积200200mm
8.AliconaInfiniteFocusG5：高景深光学测量系统，垂直分辨率10nm
9.HitachiTM4000Plus：桌面电镜系统，二次电子成像模式
10.PolytecMSA-600：微系统分析仪，振动补偿式纳米测量

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质