正电子谱仪检测
正电子谱仪检测摘要：检测项目1.正电子寿命谱测量：时间分辨率≤250ps，测量范围0.1-10ns2.多普勒展宽能谱分析：能量分辨率≤1.3keV@511keV3.三维动量分布测量：角关联精度0.1mrad4.缺陷浓度定量分析：灵敏度≥51015cm-35.空位型缺陷尺寸测定：分辨率0.1-2nm检测范围1.金属及合金材料：铝合金晶界缺陷、钛合金空位簇2.半导体材料：硅基器件界面态密度、GaN位错密度3.高分子聚合物：自由体积分数测定（0.1-5nm尺度）4.陶瓷复合材料：ZrO2相变缺陷浓度分析5.纳米功能材料：碳纳米管束
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
1.正电子寿命谱测量：时间分辨率≤250ps，测量范围0.1-10ns
2.多普勒展宽能谱分析：能量分辨率≤1.3keV@511keV
3.三维动量分布测量：角关联精度0.1mrad
4.缺陷浓度定量分析：灵敏度≥51015cm-3
5.空位型缺陷尺寸测定：分辨率0.1-2nm
检测范围
1.金属及合金材料：铝合金晶界缺陷、钛合金空位簇
2.半导体材料：硅基器件界面态密度、GaN位错密度
3.高分子聚合物：自由体积分数测定（0.1-5nm尺度）
4.陶瓷复合材料：ZrO2相变缺陷浓度分析
5.纳米功能材料：碳纳米管束间空隙分布表征
检测方法
1.ASTME2215-19正电子湮灭寿命谱标准测试方法
2.ISO20156:2020多普勒展宽能谱数据处理规程
3.GB/T39123-2020正电子谱仪校准规范
4.GB/T39124-2020金属材料缺陷浓度测定方法
5.ISO/IEC17025:2017实验室通用技术要求
检测设备
1.OrtecModel576A高纯锗探测器：能量分辨率1.25keV@1.33MeV
2.CanberraModel2100多通道分析仪：4096道ADC转换精度
3.FastComTecP7889时间数字转换器：25ps时间分辨率
4.Eckert&ZieglerNa-22放射源：活度50μCi5%
5.Kapton真空样品室：极限真空度510-6mbar
6.OrtecModel926符合电路模块：时间窗调节范围1-100ns
7.HamamatsuH3378PMT探测器：量子效率≥30%@400nm
8.LakeshoreModel331温控系统：控温精度0.1℃
9.AgilentE4980ALCR表：介电常数测量精度0.05%
10.BrukerD8AdvanceXRD联用系统：角度重复性0.0001
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析正电子谱仪检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
30471
