超光电摄像管检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.暗电流特性：测量0.1-1000nA范围内的本底噪声电流值
2.光谱响应度：测试400-1100nm波长范围的量子效率（QE≥80%）
3.线性度误差：在10^3-10^6lx照度下验证输出信号非线性度（≤1.5%）
4.增益均匀性：全靶面扫描时灵敏度偏差（CV值≤3%）
5.时间响应特性：上升时间≤50ns/下降时间≤100ns

检测范围

1.硅基光电阴极摄像管（S20/S25型）
2.红外敏感型微通道板增强管（InGaAs材料）
3.X射线影像增强管（CsI:Tl闪烁体）
4.紫外成像管（MgF2窗口型）
5.高速扫描光电倍增管（时间分辨率≤200ps）

检测方法

1.ASTMF1241-22光电转换器件量子效率测试规程
2.ISO15529:2020光学系统调制传递函数测量法
3.GB/T18912-2019摄像管暗电流测试方法
4.IEC61788-21:2021超导器件低温特性测试规范
5.GB/T26253-2010微通道板增益均匀性测试规程

检测设备

1.Keithley2636B源表：暗电流及I-V特性曲线测量
2.OceanOpticsHR4000光谱仪：300-1100nm光谱响应分析
3.OphirNovaII激光功率计：光功率密度标定（精度0.8%）
4.HamamatsuC12132时间相关单光子计数器：纳秒级时间响应测试
5.LabsphereLMS-760积分球：全向光均匀性校准系统
6.ThermoScientificLN2低温恒温器：77K-300K温度特性测试
7.ZeissAxioImagerM2m金相显微镜：微通道板结构缺陷分析
8.KeysightN9020B信号分析仪：信噪比（SNR≥60dB）测量
9.BrukerDektakXT轮廓仪：光敏面台阶高度（≤50nm）检测
10.AgilentB1500A半导体分析仪：漏电流及击穿电压测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器 资质