直接扫描检测
直接扫描检测摘要：检测项目1.表面粗糙度扫描：Ra值测量范围0.05-10μm，分辨率达纳米级2.厚度分布检测：可测厚度0.1-50mm，精度0.5μm3.内部缺陷识别：最小检出裂纹尺寸≥0.1mm4.成分分布分析：元素含量检测范围0.01%-99.9%5.几何尺寸测量：三维尺寸公差0.001mm检测范围1.金属材料：铝合金铸件/钛合金锻件/不锈钢焊接件2.高分子材料：聚乙烯(PE)管材/聚碳酸酯(PC)光学件3.陶瓷材料：氧化铝基板/碳化硅密封件4.复合材料：碳纤维增强塑料(CFRP)结构件5.电子元件：印刷电路板(PC
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
1.表面粗糙度扫描：Ra值测量范围0.05-10μm，分辨率达纳米级
2.厚度分布检测：可测厚度0.1-50mm，精度0.5μm
3.内部缺陷识别：最小检出裂纹尺寸≥0.1mm
4.成分分布分析：元素含量检测范围0.01%-99.9%
5.几何尺寸测量：三维尺寸公差0.001mm
检测范围
1.金属材料：铝合金铸件/钛合金锻件/不锈钢焊接件
2.高分子材料：聚乙烯(PE)管材/聚碳酸酯(PC)光学件
3.陶瓷材料：氧化铝基板/碳化硅密封件
4.复合材料：碳纤维增强塑料(CFRP)结构件
5.电子元件：印刷电路板(PCB)/半导体封装体
检测方法
1.ASTME2544-19X射线计算机断层扫描标准
2.ISO10878:2013无损检测-红外热成像方法
3.GB/T3880.3-2012金属材料超声波测厚规范
4.ISO10109-7:2021光学表面粗糙度测量规程
5.GB/T34370.5-2017工业CT系统性能测试方法
检测设备
1.OlympusOmniScanX3：64通道超声相控阵系统
2.ZEISSMETROTOM1500：工业CT测量精度1.9+L/100μm
3.NikonXTH225：450kV微焦点X射线断层扫描仪
4.Phoenixv|tome|xL450：纳米焦点CT分辨率＜1μm
5.ThermoFisherScientificDXR3：532nm激光拉曼光谱仪
6.KeyenceVR-5000：16MP三维轮廓测量系统
7.BrukerContourElite：白光干涉表面形貌仪
8.OlympusIPLEXGLite：4mm直径工业视频内窥镜
9.FLIRT865：640480红外热成像测温仪
10.ShimadzuEDX-7000：50WX射线荧光光谱仪
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
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